奥林巴斯的X射线荧光（XRF）矿石分析仪具有很高的分析性能，可以实时提供地球化学数据，从而有助于用户快速确定土壤、岩石和矿石的多元素特性。XRF技术的新发展，增加了可测元素的数量，改进了检出限，并降低了检测时间。
Vanta VMR XRF矿石分析仪在金矿上和金矿实验室中，可以快速方便地测量与黄金勘探相关的很多种类的样本，而且还可以对精炼黄金产品进行快速准确的分析。
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S高硫化浅成热液 | 、Cu、Te、Mo、Bi、Sn | ||||||||||
Zn卡林型 | 、Sb、Hg、Tl | ||||||||||
Cu含金矽卡岩 | 、Te、As、Co | ||||||||||
Bi火山成因块状硫化物矿床（VHMS） | 、Pb、Zn、Ag、Ba、K、Mg +/–CO2 | ||||||||||
F表生金矿 | 元素 | 元素 | As | W | Cu | Bi | Pb | Sb | Zn | Ag | ２-５ |
每个光束120秒的检测时间，无干扰的二氧化硅基质；请参阅奥林巴斯有关检出限的文件，了解有关更低检出限的详细探讨说明。
用于探测金元素的XRF矿石分析仪
众所周知，手持式XRF矿石分析仪不能对地质样本中低含量的金元素进行直接检测（如：低ppm和ppb值）。基于实验室的火试金法被普遍认为是分析金元素的方法。金元素的L线处于X射线荧光能量频谱的非常拥挤的区域。在频谱的这个区域中，来自其它元素（如：As, Zn, W和Se）的干扰，会使分析仪得出错误的金元素存在的判断。
不过，在某些特定的情况下，如：高品位的（> 5 ppm）石英脉环境（相对来说没有干扰）或在精炼的金产品中（金元素有很高的含量），可以使用XRF矿石分析仪对金元素进行直接检测。
金矿上越来越多的实验室正在使用XRF技术替代或补充火试金法，对矿石进行分析。请参阅奥林巴斯应用注释“在金矿实验室中使用手持式XRF矿石分析仪”。在矿山上，工作人员也会使用奥林巴斯手持式XRF矿石分析仪检测活性炭中的金元素。请参阅奥林巴斯应用注释“检测活性炭中的金元素”。
