SANKO山高 电磁/涡流薄膜厚度计SFN-325

连接类型
SWT-NEO系列（NEO、NEOⅡ、NEOⅢ型号）
测量方法
电磁式和涡流式（自动基板检测）
测量范围
铁基体：0-3.00 毫米；有色金属基体：0-2.50 毫米
材料标识
自动检测和手动切换。
显示分辨率
1 μm：可在0 至 999 μm
之间切换
；0.1 μm：0 至 400 μm；0.5 μm：400 至 500 μm
；0.01 mm：（铁基片 1.00 至 3.00 mm）；（非铁基片 1.00 至 2.50 mm）
测量精度
（垂直于光滑表面测量）
0-100 μm：±1 μm
或在值的 ±2% 范围内
（铁基底） 101 μm-3.00 mm：在 ±2% 范围内
（非铁基底） 101 μm-2.50 mm：在 ±2% 范围内
探测
单点恒压接触式，V形切口，
φ15 x 50.9 mm，72 g
选项
V型探针适配器
配件
标准厚度钢板，零度试验钢板（适用于黑色金属，适用于有色金属）
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