SANKO山高SWT-NEO-FN薄膜厚度计

测量范围
铁基体:0-3.00 毫米;
非铁基体:0-2.50 毫米
显示方法
LCD数字显示屏,显示保持
显示分辨率

1μm:可切换范围为0至999μm
;0.1μm:0至400μm
;0.5μm:400至500μm;
0.01mm:铁基板(1.00至3.00mm);
非铁基板(1.00至2.50mm)
测量精度
对于均匀表面:0–100 μm:±1 μm(适用于铁质和非铁质材料)
或在值的±2%以内
;101 μm–3.00 mm:
在±2%以内(铁质基底);101 μm–2.50 mm:在±2%以内(非铁质基底)。
校准曲线记忆
黑色金属和有色金属各一份。
电源
2节AA碱性电池(1.5V) 连续使用时间(25小时*)
交流适配器(可选)
,带自动关机功能
**值(可能因使用情况而异。)
工作温度
0-40°C(无冷凝)
 尺寸
72(宽)×30(高)×156(深)毫米
重量
约200克(含电池)
配件
标准厚度平板、零点测试平板、干电池、收纳箱、手带、保修卡/用户登记表、使用说明书
探测
单点恒压接触式,V形切口,φ15 x 50.9mm
评论
此外,还有高性能的 SWT-NEOⅡ 型号,具有内存和统计功能等特性。
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