池田屋分享 Otsuka大塚ZETA电位粒径测试分析仪ELSZ-2000ZS

池田屋分享 Otsuka大塚ZETA电位粒径测试分析仪ELSZ-2000ZS
    近期我司推出Otsuka大塚ZETA电位粒径测试分析仪ELSZ-2000ZS
    ELSZ-2000ZS是日本大冢电子研发的一体式光学表征设备，整合动态光散射粒径测试、激光多普勒电泳Zeta电位测试、静态光散射*分子量测试三项核心功能，可用于纳米材料、高分子、生物医药、新能源浆料等体系的稳定性检测与物性分析。设备符合ISO、JIS等国际检测标准，依托稳定的设备性能、宽泛的样品适配性与无损检测特性，可适配科研研发、配方优化、工艺质控、成品检测等多类应用场景，是胶体与高分子领域通用性良好的综合表征设备。
    设备搭载成熟的光学检测架构与APD雪崩光电二极管探测器，可有效捕捉微弱散射信号，稳定检测效率，降低检测误差。粒径检测依托动态光散射原理，监测纳米颗粒布朗运动产生的散射光强度波动，*换算流体力学粒径与粒径分布，检测区间为0.6nm～10μm，可适配纳米粉体、乳液、各类浆料等多种样品类型。Zeta电位检测采用激光多普勒电泳技术，搭配专属电渗流实测补偿算法，规避电极壁面检测干扰，*测算颗粒表面带电状态，可直观研判样品体系的分散、团聚、沉降趋势，电位检测范围可达±200mV。设备通过静态光散射技术，无需依赖标准样品，即可完成360Da～2×10⁷Da区间高分子*分子量检测，同步解析第二维里系数，为高分子聚合工艺性能评估提供可靠的数据支撑。
    该设备具备*的样品适配能力，改善了传统仪器需稀释检测的局限，可直接检测浓度区间0.00001%～40%的样品。无论是低浓度纳米分散液，还是高固含涂料、锂电浆料、高盐溶液，均可实现无损检测，规避稀释操作对样品原始状态的影响。设备内置0～90℃*温控模块，支持程序化温度梯度测试，可捕捉蛋白变性、水凝胶相变、胶体高温失稳等温度变化节点，适配各类温敏材料的专项研究需求。同时设备支持多规格样品池选配，标配0.7mL标准样品池，兼容130μL微量一次性池、20μL微量池，能够减少珍贵生物样品、纳米样品的试验损耗。
设备可拓展自动pH滴定模块，可自动绘制Zeta电位-pH特征曲线，*测定样品等电点，为配方pH值调试、分散剂选型、体系稳定性调控提供核心参考数据。整机自动化程度较高，测试流程简便，可自动完成信号采集、数据运算、误差修正与报告输出，检测数据具备良好的重复性与稳定性，适配实验室常态化研发测试与产线批量质控工作。
    生物医药行业，适用于蛋白制剂、脂质体、纳米载药体系的粒径、电位与分子量表征，辅助评估药物储存稳定性能；新能源行业，可对锂电正负极浆料、导电分散液开展物性检测，为极片涂布工艺优化提供依据；新材料与化工行业，可完成纳米粉体、陶瓷浆料、涂料油墨的分散性质量管控；高分子行业，可*检测聚合物分子量与体系分散稳定性，助力聚合工艺迭代升级。
整体来看，ELSZ-2000ZS可单机完成三类核心物性检测，减少多设备配套检测产生的样品误差与场地投入，兼具稳定*、适配广泛、自动化程度高、样品损耗低等诸多优势，适配高校科研实验室、新材料企业、生物医药厂商、新能源制造企业的常规检测与深度研发工作，是胶体与高分子材料研究领域的常用表征设备。