-title-font-weight,600);margin-left:0px;color:#060A26;background-color:#FFFFFF;">
玉崎科学仪器（深圳）有限公司代理日本OTSUKA大塚电子的通知
尊敬的客户、合作伙伴及业界同仁：
我们非常荣幸地宣布，玉崎科学仪器（深圳）有限公司（以下简称“玉崎科学”）已正式成为日本OTSUKA大塚电子（Otsuka Electronics）在市场的授权代理商。即日起，我们将全面负责OTSUKA大塚电子旗下光学测量系列产品在区域的销售、技术支持及售后服务工作。
此次合作是玉崎科学在高端光学测量与半导体检测领域布局的重要一步。日本OTSUKA大塚电子作为全球的光学测量设备制造商，深耕行业多年，凭借*的技术、严苛的品控，在半导体、光学镀膜、精密涂层等领域树立了行业。其产品线涵盖了从手持式膜厚仪到旗舰级显微分光膜厚仪、光谱辐射计等多种高端设备，以“非破坏+高精度+现场快测”的优势赢得了全球企业的广泛认可。
通过本次代理合作，玉崎科学将向客户引进OTSUKA大塚电子的核心产品线，包括但不限于：
-
手持式膜厚仪（SM-100系列）：基于反射光谱法，集成白光光源与微型光谱仪，机身仅重1.1kg，单手可握，无需外接复杂设备，单次检测≤1秒，非接触式测量不损伤样品，适合车间、实验室、现场巡检等多种场景。
-
显微分光膜厚仪（OPTM系列）：旗舰级设备，采用显微分光干涉法，支持微区（光斑Φ3～40μm）、纳米级精度测量，*多可解析50层薄膜结构，适配半导体、显示、光学镀膜研发与质控的高端需求。
-
晶圆薄膜厚度计（SF-3系列）：基于光谱干涉法，主打高速、长工作距，支持在线实时监控，可穿透保护膜、玻璃窗口直接测基底厚度，适配硅晶圆、化合物半导体等产线集成场景。
-
高灵敏度光谱辐射计（HS-1000系列）：集成衍射光栅分光与热电冷却线性阵列传感器技术，亮度测量范围达0.005 cd/m²～400,000 cd/m²，偏振误差＜1%，适用于LCD、有机EL等显示设备的光谱数据、亮度、色度测量。
玉崎科学将充分发挥自身的渠道管理优势与技术支持能力，确保OTSUKA大塚电子产品在市场的供应稳定与服务质量。我们将为客户提供从选型咨询、技术应用到售后维护的全方位支持，助力客户提升生产效率与产品品质。
感谢各界朋友长期以来的信任与支持，期待与您携手，共同推动行业技术的进步与发展。
特此通知。
玉崎科学仪器（深圳）有限公司
2026年3月30日
