泰克Tektrnix 371B大功率曲线跟踪...
应用
手动或自动高分辨率 DC
半导体的参数表征
即将到来的检查
制造测试
过程监控和质量控制
数据表生成
元器件匹配
故障分析
工程
半导体器件的高功率测量
高达 3,000 伏特
高达 400 安培
高达 3,000 瓦
波形比较
信封展示
波形平均
3.5 英寸 MS DOS 兼容磁盘存储
完全可编程
交互式可编程控制：从功能齐全
应用
手动或自动高分辨率 DC
半导体的参数表征
即将到来的检查
制造测试
过程监控和质量控制
数据表生成
元器件匹配
故障分析
工程
半导体器件的高功率测量
高达 3,000 伏特
高达 400 安培
高达 3,000 瓦
波形比较
信封展示
波形平均
3.5 英寸 MS DOS 兼容磁盘存储
完全可编程
交互式可编程控制：从功能齐全的前面板或通过 GPIB
操作参数可以调整和存储
可调用操作参数：
通过 371A 非易失性存储器
通过内置的 MS DOS 兼容软盘
通过外部控制器
3 种光标测量模式
点光标：在任何点提供电压、电流、gm 或 DC beta 的直接屏幕读数
窗口光标：
可以放置在两条曲线之间以测量小信号 beta 或 gm
可用于视觉通过/不通过测试
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温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
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