池田屋精品Otsuka大塚电子便携式智能膜厚仪SM-110PO 型参数介绍
型号:日本 OTSUKA 大塚电子 Smart 系列 Pro *款 SM-110PO
同系列区分:SM-110SO 为标准基础款;SM-110PO 是多层膜*高配版,支持*多 3 层复合薄膜解析
测量原理:反射分光干涉法(白光光谱干涉),非接触无损检测,通过薄膜界面反射光谱计算*膜厚、同步输出反射光谱曲线
规格概览
| 参数项目 | SM-110PO 标准规格 |
|---|---|
| 测量光路 | 垂直 90° 同轴直射(PO 探头) |
| 适用薄膜 | 硬化膜 HC、AR 防反膜、ITO 导电膜、SiO₂、光学树脂涂层、PET/PC 透明膜 |
| 单层膜测量量程 | 0.1 μm ~ 100 μm |
| 多层膜规格 | 1 μm ~ 100 μm,*多同步解析 3 层复合膜 |
| 测量光斑 | φ1.2 mm |
| 测量分辨率 | 0.1 μm |
| 重复测量精度 | ≤±0.2 μm |
| 单次测量速度 | <0.5 s,快速批量检测 |
| 光谱范围 | 400–1000 nm 可见光波段 |
| 数据存储容量 | 内置 1800 组测量数据,自动统计均值 / 极差 / 标准差 |
| 屏幕 | 彩色液晶显示屏,同步显示膜厚数值 + 干涉光谱曲线 |
| 供电方式 | 内置充电锂电池,连续工作 8h;AC 适配器可持续供电 |
| 整机重量 | 主机约 350 g,单手轻松握持 |
| 数据通信 | USB 接口,连接电脑导出数据、光谱曲线、检测报表 |
| 工作环境 | 0~40℃,无凝露,适配万级 / 千级无尘车间 |