OFDR设备-光学器件分析系统 OCI-T
OCI-T光学故障测量仪具有功能齐全、高等特点，可实现从器件到光学链路全范围的插损、回损、长度测量。长度测量范围为10m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm。非常适用于定量分析，品质监测及故障诊断。
- 空间分辨率：20μm
- 测量长度：20m
- 中心波长：1550nm
- 插损、回损分析
- 无源器件插损、回损测量
- 硅光芯片插损、回损测量
- 平面波导器件测试
- 光学链路分析、诊断
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型号 |
OCI-T |
单位 |
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测量长度1 |
20 |
m |
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空间分辨率2 |
20 |
μm |
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波长扫描范围 |
40 |
nm |
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中心波长 |
1550 |
nm |
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波长精度 |
1.0 |
pm |
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回损动态范围 |
65 |
dB |
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回损测量范围 |
-130~0 |
dB |
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回损灵敏度 |
-130 |
dB |
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回损测量精度 |
±0.5 |
dB |
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回损分辨率 |
±0.05 |
dB |
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插损动态范围3 |
13 |
dB |
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插损测量精度 |
±0.5 |
dB |
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输入电压 |
AC 220/110V; DC 12V |
- |
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主机功率 |
60 |
W |
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通讯接口 |
USB |
- |
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光纤接口 |
FC/APC |
- |
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尺寸 |
W 345 * D 390 * H 165 |
mm |
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重量 |
7.5 |
kg |
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储藏温度 |
0~50 |
℃ |
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工作温度 |
-10~40 |
℃ |
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工作湿度 |
10~90 |
%RH |
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