SGC-10薄@膜测厚仪
SGC-10薄膜测厚仪
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| 名称 | 参数 |
| 厚度范围 | 20nm-50um（只测膜厚）， 100nm-10um（同时测量膜厚和光学常数n，k） 根据薄膜材料的种类，其范围有所不同。 |
| 准确性 | <1nm或<0.5% |
| 重复性 | 0.1nm |
| 波长范围 | 380nm-1000nm |
| 可测层数 | 1-4层 |
| 样品尺寸 | 样品镀膜区直径>1.2mm |
| 测量速度 | 5s-60s |
| 光斑直径 | 1.2mm-10mm可调 |
| 样品台 | 290mm*160mm |
| 光源 | 长寿命溴钨灯（2000h） |
| 光纤 | 纯石英宽光谱光纤 |
| 探测器 | 进口光纤光谱仪 |
| 电源 | AC100V-240V，50HZ-60HZ |
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