超声波探伤仪PD-F2

超声波探伤仪F2仪器特点：

• 高分辨率EL，的遮阳设计，符合人体工程学。
• 采用高端ARM处理器，系统响应速度快，实时性好。
• 采用性能的前置放大器，大大减小检测盲区。
• 简洁易用的人机交互，仪器操控性强。
• 高达4 GB海量存储，能够进行长时间的探伤波形动态记录，存储大量波形信息。
• 具有丰富的通信接口，强大的数据备份和数据转储能力。
• 防水等级IP64
• 键盘背光功能
• 探头接口采用瑞士原装进口的LEMO接头，美观大方，耐用性好。
• 增加Ethernet网口，可接入以太网。
• 增加了大量的操作提示信息，人机交互界面更加友好。
• 用户可根据自己喜好来选择不同的屏幕颜色。
• 内置AWS、API5UE等多种标准。

超声波探伤仪F2主要性能指标：

探测范围：(0~9999)mm
工作频率：(0.25~20)MHz
各频段等效输入噪声：＜15%
声速范围：(1000~20000)m/
发射脉冲：负脉冲s
能量可选择，适用探头范围广
脉冲宽度在(0.1~0.5)μs 范围内连续调节，以匹配不同频率的探头
脉冲幅度：低（300伏）、中（500伏）、高（700伏）分级选择，适用探头范围广
脉冲宽度：在（0.1~0.5）μs 范围内连续调节，以匹配不同频率的探头.
探头阻尼：50Ω，150Ω、300Ω、400Ω可选，满足灵敏度及分辨率的不同工作
动态范围：≥36dB 数字抑制：(0~80)%，不影响线性与增益
垂直线性误差：≤2.6%
水平线性误差：≤0.1%
分 辨 力：>38dB
灵敏度余量：60dB.
电噪声电平：≤10%
滤波频带： （0.25~20）MHz，根据探头频率全自动匹配，无需手动设置
探伤通道：200组探伤工作通道
探头接口：LEMO接口 ERA.1S
探头类型： 直探头、斜探头、双晶探头、穿透探头
报 警： 蜂鸣器报警 键盘背光灯报警
电 源： 直流（DC）9V；锂电池连续工作6~8 小时以上
外型尺寸：220×156 × 58 (mm) 结构待定
环境温度：(-10~50)℃
相对湿度：(20~95)%RH
注：以上指标是在探头频率为2.5MHz、检波方式为全波的情况下所测得的。

超声波探伤仪F2主要功能参数：

数据采集：
硬件实时采样：10 位AD 转换器，采样速度125MHz，波形高度保真。
检波方式：正半波、负半波、全波、射频检波。
闸门读数：单闸门和双闸门读数方式可选；闸门内峰值读数、边缘检测可选。
增益：0-110dB，小增益调节量0.1dB，的全自动增益调节及扫查增益功能。
探伤功能
波峰记忆：实时检索缺陷高波，记录缺陷大值。
Φ值计算：直探头锻件探伤找准缺陷高波后自动计算、显示缺陷当量尺寸。
缺陷定位：实时显示缺陷水平、深度（垂直）、声程位置。
缺陷定量：缺陷当量dB 值实时显示
缺陷定性：通过回波包络波形，方便人工经验判断
探头频率检测：通过抓取回波，准确检测出探头的中心频率，500mm范围内任意波幅回波，一键轻松完成检测
曲面修正：修正斜探头圆管检测时的深度和水平距离
修正模式：内弧/ 外弧
DAC/AVG：曲线自动生成，取样点不受限制，并可进行补偿与修正。曲线随增益自动浮动、随声程自动扩展、随延时自动移动。能显示任意孔径的AVG 曲线。
裂纹测高：利用端点衍射波自动测量、计算裂纹高度。
B型扫描：采用定时扫描方式形成B型图像
门内展宽：放大回波细节，便于回波分析
动态记录：检测实时动态记录、存储、回放波形，每段记录可达8分钟，。
波形冻结：冻结屏幕上显示的波形，便于缺陷分析
焊缝图示：显示焊缝坡口形式和声束走向，直观显示缺陷位置。
内置标准：可自由设置各行业探伤工艺标准
回波编码：输入工件厚度，仪器根据一次波、二次波及多次波的区域能生成不同的背景色彩。
工作方式：直探头、斜探头、双晶探头、穿透探伤
闸门报警：门位、门宽、门高任意可调；B 闸门可选择设置进波报警或失波报警；
数据存储
200 组探伤参数通道，可预先调校好各类探头和仪器的组合参数，自由设置各行业探伤标准；可存储10000 幅探伤回波信号及参数，实现存储、读出及通过USB接口传输。
实时时钟
实时探伤日期、时间的跟踪记录，并记录存储。
通讯接口
USB主机接口和从机接口，既能与PC机通信，又能方便地访问U盘。
蓝牙无线通信模块。
电池模块
高容量锂电池模块，在线充电和脱机充电两种充电方式，方便探伤人员使用。

风速计  PROVA风速计  PROVA   TT220/230  涂层测厚仪  TT220/230涂层测厚仪  TT220/230   TX  系列在线式红外测温仪  TX系列在线式红外测温仪  TX   MiniTest1100/2100/3100/4100  涂镀层测厚仪  MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪  MiniTest1100/2100/3100/4100   Fluke50  系列II温度计  Fluke50系列II温度计  Fluke50  TES1310/20/11/12  接触式测温仪  TES1310/20/11/12接触式测温仪  TES1310/20/11/12  DSM3  小型金相显微镜  DSM3小型金相显微镜  DSM3   Mikrotest6  涂镀层测厚仪  Mikrotest6涂镀层测厚仪  Mikrotest6     TES1307  接触式测温仪  TES1307接触式测温仪  TES1307  XH500  现场金相显微镜  XH500现场金相显微镜  XH500  TES1306  接触式测温仪  TES1306接触式测温仪  TES1306   磁粉探伤仪  DA400/B310BDC