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工业生产中经常需要用到位移传感器，位移传感器又称为线性传感器，是一种属于金属感应的线件，位移传感器的作用是把各种被测物理量转换为电量，根据位移量的大小输出大小不同的电信号，然后能判断位移量的大小，并且位移传感器的应用范围相当广泛，常用在工业自动化或者建筑桥梁等方面。那么位移传感器的应用领域具体有哪些呢?激光位移传感器的应用激光传感器常用于长度、距离、振动、速度、方位等物理量的测量，还可用于探伤和大气污染物的监测等。半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，lLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的lPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。
四线法：这是在三线法基础上的改进法。这种方法可以消除由于辅助地极接地电阻、测试引线及接触电阻引起的误差。仪器选择：目前市场支持此种方法的仪器比较多，其中以共立410-H接地电阻测试仪为代表。钳夹法：钳夹法分为单钳法和双钳法1双钳法:利用在变化磁场中的导体会产生感应电压的原理，用一个钳子通以变化的电流,从而产生交变的磁场,该磁场使得其内的导体产生一定的感应电压，用另一个钳子测量由此电压产生的感应电流,后用欧姆定律计算出环路电路值。然而，为了改进大楼穿透力和传输距离、降低各种干扰、减少无线通讯中的功耗，设计开发的工程师可以考虑使用各国规定的其它频段(900MHZ，779MHZ，433MHZ，315MHZ等等)当我们的工程师和设计人员，设计物联网相关产品的时候，我们原来熟悉和使用的一些仪表普通示波器，数字信号发生器和函数发生器，万用表等，由于基本上是低频和时域的仪器，在面对几百着到数千兆高频微波射频信号时，很难发挥作用，需要改用高频和频域的仪器，射频频谱仪，射频信号发生器，射频网络分析仪等，这些仪器目前市面上很多，但是共同的特点是非常昂贵，动辄每台几万，甚每台高达几十万元。
