集成电路失效分析流程中，I/V CURVE的量测往往是非破坏分析的第二步(外观检查排在步)，可见curve量测的重要性。随着器件的pin脚数越来越多，传统的curve tracer(多为手动)没有办法满足时效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的满足了客户的需求，尤其是在BGA等通讯产品方面，具备安捷伦B1500和keithely4200无可比拟的便利性。