四寸探针台probe晶圆wafer测试芯片chip测试

PW-400手动分析探针台

型号:   PW-400                              
规格:
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
chuck Z轴方向升降10mm(选项)
搭配AEC实体显微镜
针座摆放个数2~4颗
可以搭配测试机量测I/V、c/v、电阻、电容等参数

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