技术规格 :namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" />
仪器操作简便、直观。可在原位进行有效的“失效分析”。
性:
X射线管和检测器系统的几何设计使其能够分析以前无法触及的样品表面。如:环形样品的内表面。
激发源
Mo靶的X光管
风冷
大功率：30W
高电压：50kV
测量点尺寸：0.7mm
样品室
长：520 mm(20.5 '')
宽：310mm(12'')
高:160 mm(6.3'')
样品放大成像系统
手动样品台或固定样品用多轴向夹具
符合严格的ξ3 R?V(德国X射线标准)辐射防护标准
计算机
台式Pentium™ 计算机
Windows™操作系统
键盘和鼠标
显示器
打印机
软件
菜单式软件，光谱仪参数调整和数据评估及计算
检测器
电致冷（Peltier 冷却）的Si漂移半导体计数器
以Mn Kα线，在测量计数率为1000脉冲计数时能量分辨率为:FWHM<150 eV
微处理器控制的检测器和读出电路
其它规格
电压:100 -127或，200-240V50/60 Hz2.6/1.0A
大处尺寸:
长:540mm(21’’)
宽:420 mm(16.5’’)
高:560 mm(22’’)
底座尺寸:
长:540mm(21’’)
宽:360 mm(14’’)
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