功能介绍日本神视SUNX检查、测量用传感器HL-D301B
凝聚新技术的高速·高精度激光位移传感器全行业的基本性能
度。可将任何角度的光线在受光部以极小点成像，实现了更高的精度。
想的近似正态分布的高品质激光。另外，通过在投光
装备几种形状运算功能和2个判定输出
按照捕 器集成在宽度12.5mm的检测头中！ 器集成在宽度12.5mm的检测头中！
4种模式可适应各种各样的测量
从联机高速测量到脱机高精度测量，为了解决各种各样的测量需求，装备了4种计测模式。
量。适用于测量光泽和颜色不同的工件。
相当于500台分辨率为1 相当于500台分辨率为1?m的高精度激光位移传感
可实现高速多点测量和稳定的形状测量
全新设计的适合HDLC-CMOS传感器的高分辨率透镜。采用本公司新的光
捉“点”，而非“线”的新概念，检测对象物体的形
度的受光元件和接近极限的处理速度。突破性地实现了一般
激光位移传感器难以达到的高分辨率和高速度
度，进行等间隔测量。可减少测量点数，提高测量速度。
以的间距对测量宽度(X轴)进行分割，为每个间隔调节敏感
学仿真技术，将像差降低到小限
为HL-C2系列开发了的HDLC-CMOS传感器。
独创的光学配置和光圈结构，实现了发射强度接近理
量调整功能中采用新的算法，可以瞬时跟踪受光量的
状，在确保位移方向(Z轴方向)分辨率的同时，
① 由于仅选取欲测量的任意的测量点，因此，可以实现更高的测量速度；
■多点位移计测模式
变化，确保投光状态始终保持佳。
提供“轻松”、“可靠”和“放心”。
通过新的CMOS工艺技术和
■统一同步计测模式
调节成相同的敏感度对整个测量宽度(X轴)进行统一测量。该模式适用于测量高速移动的工件。
■等间距计测模式
将独创的信号处理电路集成于受光元件芯片上的“系统芯片”化技术，获得了高密
反射型激光位移传感器所要求的三项基本性能，已经达到了行
标准附带设定和监视软件(HL-D3SMI)
业高级别。在要求高速、高精度的现场，本产品能为您
可多对测量宽度(X轴)上的任意位置的10个测量点进行高速测量和判定。
■多段分割光量调整计测模式
② 因为可对每个测量点分别进行光量调节，所以能实现稳定而
高精度的测量
对测量宽度(X轴)内进行分割，以获得佳光量，实现高精度测
按照已获得的受光波形为基础的形状波形，对高低差、宽度、
功能介绍日本神视SUNX检查、测量用传感器HL-D301B
