| 产品简介 |
| 能量色散X荧光分析仪产品配置: 采用进口的美国AMPTEK 航天技术的SI(PIN)半导体探测器系列 采用数字脉冲采集电路及的电源管理技术 采用进口的X 光管 采用进口的的X 光管高压电源 采用专有金属滤光片技术和切换技术 采用精密的系统控制电路和数字处理电路 采用专有的分析算法软件模块V2.0A 配备的卤素测试模式和RoHS 测试模式 配备Dell 的Intel 双核CPU 电脑(1G 内存、160G 硬盘) 配备Dell 17”宽屏高清液晶显示器 配备USB2.0 蓝牙适配器 配备的激光打印机 配备的制样机 配备的真空泵 配备的测试薄膜、测试样杯 配备的测试标样一套 CIT-3100SYD 能量色散X 荧光分析仪技术指标: 分析元素范围:Na-U; 元素含量分析范围:1ppm -99.99%(采用1024 道多道分析器,分析精度更高); 采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数,配合的数字脉冲处理技术,能量分辨率优 于139eV; 测量范围:1-40KeV; 重复性:<0.1%;稳定性:< 0.01%; 高压:5kV-40kV(激发源为进口 40KV-钨靶微型X 射线管); 管流:5μA-200μA;(可减少整机功耗和降低辐射); 的稳定电源:AC 220V±1%,50HZ(采用国内的高品质稳压电源1000W); CIT-3100SYD 能量色散X 荧光分析仪额定功率:50W; 整机能量分辨率:150±5eV; 检测时间:120S~600S(时间随样品而调整); 仪器重量:25Kg; 仪器尺寸:500(W)X500(D)X450(H)mm; 圆形样品真空腔:直径14cm,高5cm; 工作环境温度:温度0-40℃;样品温度<70℃; 低检出限:Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm Pb≤2ppmCl≤20PPm; 工作环境相对湿度:≤99%(不结露); 测量物质状态:固体、粉末、液体均可测,制样简单; 校正方式:采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据; 一体化设计,性能稳定,运行可靠,高;操作简单,测量时间短,同时配备PC 机,分析仪 通过无线蓝牙技术可单独和PC 进行通信测试,方便使用; 稳定的卤素测试模式 (Cl 含量和Br 含量)和的RoHS 测试模式; 适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE 有害元素(Pb、Hg、Br、Cd、Cr)检测; 钢铁、铝业、水泥、有色、玻璃、耐火材料等行业全元素的快速检测; 卤素检测; 对比国内外仪器优势评估 1. 真空系统优势: 采用全铝件直接加工,无缝隙设计,有效确保系统的气密性为优; 采用了国内品质优的大排量真空泵系统; 独有的真空控制系统,确保真空系统的高真空度和高稳定性; 真空度可稳定达到10-2Pa(高真空区域为10-1-10-5 Pa); 显著提高轻元素的测量效率; 2. 准直器设计优势: 采用固定装置的准直器设计,无需切换,通过预先调试将准直器固定到佳位置,确保X 射线从佳角度直射到被检 物料上,从而确保测试的佳效果,该设计适合于各种物料的测试; 准直器孔径大小设定为佳尺寸 确保X 射线的入射强度为佳适合各种小型物料的检测; 准直器自动切换设计易导致客户误操作不同大小的物料所需要的准直器孔径大小不同 客户容易出现选择性操作失 误导致终测试结果不准确; 自动切换设计从结构方面来看,容易引起相应部件的磨损,频繁切换容易出现仪器故障; 配合双滤片设计,可满足各种尺寸的样品测试; 3. 样品仓设计优势: 一体化设计,高真空度测量系统,可提高卤素的检测精度(卤素检测精度<20mg/kg); 配有多种样品窗口设计,可以满足各种尺寸的样品测试; 4. 配件优势: 我公司仪器的大部分配件均采用级和工业级应用的配件,确保系统的高品质; 采用集成高压电源与进口X 光管一体化设计,确保测试的稳定性和度,减少故障发生率,延长仪器使用寿命; 采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数,配合的数字脉冲处理技术,能量分辨率优于139eV; 5. 机械结构优势: 尽量少的使用机械部件,确保提高系统的可靠性及稳定性,大程度的减少维护成本支出; 6. 制样机优势: 由国内厂商定制,可对固体样品制样,还可压制粉末样品或其他软材料样品,该机制样均匀,能有效保障测量结 果的一致性要求; 7. 稳压电源优势: 采用国内的高品质稳压电源; 8. 整机优势: 应用领域为工业级应用,远远高于实验室应用; 可适应在工业现场恶劣环境中使用,可以连续工作2000 小时以上,故障率极低; 9. 特制薄膜设计优势: 采用特制的薄膜,用于微细物料的检测; |
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