NFC-KIT-CASE-E

NFC-KIT-CASE-E网络测试仪介绍
NFC-KIT-CASE-E报价，NFC-KIT-CASE-E网络测试仪咨询热线许生由深圳市连讯达电子技术开发有限公司现货供应
福禄克FLUKE NFC-KIT-CASE-E光纤损耗测试仪概述：
NFC-KIT-CASE-E通过Fluke FI-7000 FiberInspector Pro(FI-1000,FI-7000-MPO)光纤视频显微镜，您可在 2 秒内对端面进行检查和确认，使您首次即可完成工作。通过/失败自动化排除了光纤检测中的人为猜测，藉此任何人都可以成为光纤端面污染是光线故障的主要原因。灰尘和污染物可以引起插入损耗和反射，抑制光传输并引起收发器损坏。光纤损耗和 OTDR 测试能够发现此问题，但是在许多情况下，连接部分的灰尘会导致光纤测试既耗费时间又不准确。

由于在光纤测试的前期、中期和后期，以及由一个端面迁移至另一个端面进行连接的过程中，灰尘都会造成问题，所以任何连接部分的两端都必须保持干净并时刻对其进行检查。此外，由于在实际接触的端接面之间会产生微小碎片，因此连接脏污的接头可能引起性损坏。对于出厂时端接的跳线或尾纤，也必须进行检查，因为保护性端盖并不能保证端面清洁。要避免这类常见故障的发生，在插入闷头或设备之前应首先检查端面并去除任何污染物。

深圳市连讯达电子技术开发有限公司
联系人：福禄克*尹学军
电话：
手机号：
传真：-808
地址：深圳市福田区华强北路2006号华联发大厦602室