！！Q8344A光谱分析仪Q8344A
Q8344A销售：
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连续测量
1.5秒/扫描的高速测量
0.35μm到1.75μm的宽波长范围
0.1nm的波长测量精度
Q8344A光谱分析仪
Q8344A是具有0.35到1.75μm的宽波长范围的光谱分析仪。
在傅立叶光谱系统中,迈克尔逊干涉仪的应用使单色器的离散光谱系统所不能进行的连
续分析成为可能。它显示了评估CD和视频光盘的激光二极管的能力。
作为参考波长的内置HE-NE激光器可以识别±0.1nm(1.3nm) 的波长精度，甚至在不经过
波长校准的情况下也可以保证长期的测量稳定性。
Q8344A提供了大0.05nm(在0.85μm)的波长分辨率，适合于测量窄模式间隔的激光二
极管。不论分析的跨度，测量速度进约为1.5秒（在0.4μm到1.05μm和0.8μm到
1.75μm），使它可以作为系统一部分。
Q8344A具有全面的显示、分析和处理功能，它可以对诸如激光二极管和LED之类的光发
射元件以及光纤和滤波器光元件进行特性测量。
连续测量
由于Q8344A使用了迈克尔逊干涉仪，它可以进行连续测量。这项功能使它可以轻松地对
视频光盘的激光二极管的回光所引起的噪声抑制进行评估，分析范围大约为±10mm。
1.5秒/扫描的高速测量
Q8344A采用傅立叶频谱系统，因而对任何的测量跨度和灵敏度都可以在1.5秒内完成测
量。(提供起始波长是0.4μm或更长并 且测量不能同时覆盖短的波长和长波长)。因此
，分析仪适合于测量生产线上的激光二极管和LED，并且可以评估光纤和滤波器的传输
和损耗的特征。
当作为系统组成部分时，分析仪只需要1.5秒就可以完成触发，测量和数据输出。
0.05nm的大波长范围
在短波长(0.85μm)时Q8344A提供0.05nm的大分辨率，使它可以以全分解振荡模式依
次对CD和可视光激光二极管进行测量。
大量规光纤输出（选件）
200μm大量输出可以作为选件使用。当分析波长大于标准光纤量规(GI50μm)的装置时
，可选用此选件。对激光二极管分析，标准50-μm规格，对LED分析，选用规
格。
标准附件
产品名称 类型 描述
功率电缆 A01402 1
打印机纸 A09075 5卷(包括在选件01中)
选件
选件01：内置打印机 显示器上所显示的数据硬拷贝
打印系统：热敏式打印行点系统
打印速度：8秒或者更少
记录纸：A09075
纸宽：114nm
选件10：200μm光纤输入(订购是请确认)
一般指标：
工作环境：
温度：-10~+40℃湿度85%RH或更小(不需要冷凝)
存储环境：
温度：-10~+50℃，湿度：90%RH或更少(不需要冷凝）
电源要求： 198~250VAC，48~66Hz,180VA或更少
尺寸：近似424mm(宽)×221mm(高)×550mm(长)
质量：大27kg(包括打印机选件)
深圳佳捷伦电子仪器有限公司
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