镀镍厚度测量仪

发布时间:2017-03-06

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江苏天瑞仪器股份有限公司   股票代码:300165   国内家分析仪器上市企业

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金属镀层x射线测厚仪是一种用来检测电镀层厚度的分析仪器,利用x-ray照射样品激发元素荧光的方式,检测荧光值的强度来确定待测厚度的分析仪器。x射线测厚仪又名膜厚仪,涂镀层测厚仪,金属测厚仪,镀层厚度测量仪,x荧光测厚仪,x荧光镀层测厚仪,镀金测厚仪,镀银测厚仪,铜镀银厚度测量仪,镀镍镀银镀锌测厚仪,天瑞仪器x射线测厚仪,国产镀层测厚仪,thick800a镀层测厚仪,x-ray测厚仪,x-ray涂镀层厚度分析仪。


天瑞仪器THICK800A X光测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款高端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。由于X光测厚仪是在线测量仪表,检测的厚度是钢板热态时的厚度,这样会和冷态时的厚度有一定的偏差,所以就增加了温度补偿系数。使在线测量的数据与冷态时保持一致。同样如果轧制材质有变化时,也会给测量带来误差。这时只需将不同材质的样板进行检测,计算出合金补偿系数,也可以使测量数据和实际材质厚度保持一致。


天瑞仪器THICK800AX光测厚仪的主要优势有: 

1、X光测厚仪有高端优化的配置,极高。 

2、提供佳的控制参数。

3、测量中不会造成对金属镀层的表面划伤和其他缺陷。

4、X光测厚仪,稳定,高速的无接触测量。5、备件充足,售后服务快速细致。


Thick800A性能特点:满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光,可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率探头使分析结果更加 良好的射线屏蔽作用 测试口高度敏感性传感器保护

Thick800A技术指标 型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。 
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm  样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm  重量:90kg

Thick800A标准配置:开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器
保护传感器  计算机及喷墨打印机

Thick800A应用领域:黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。



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