SI / DI - 用于光学应变计的测量设备

发布时间:2014-09-03

SI / DI - 用于光学应变计的测量设备

当采用光学应变计你可以从配合的测量链中获益. 节约时间增强安全性从单一源获益.通过光学应变计测量设备和软件进行光学应变计数据采集.

产品描述

SI 系列 用于1到4个通道的静态数据采集 1 到 5 次测量/秒:

  • SI101: 单通道 1 次测量/秒
  • SI105: 单通道 5 次测量/秒
  • SI401: 4 通道 1 次测量/秒
  • SI405: 4 通道 5 次测量/秒
  • SI410: 4 通道 10 次测量/秒

DI 系列 用于动态数据采集 100 到 1000 次测量/秒:

  • DI101: 单通道 100 次测量/秒
  • DI105: 单通道 500 次测量/秒
  • DI110: 单通道 1000 次测量/秒
  • DI405: 4 通道 500 次测量/秒
  • DI410: 4 通道 1000 次测量/秒

NEW: In addition to the specifications in the data sheet DI410 is available in standard version with 1 kHz sample rate and a measuring range (spectrum) of 1510 to 1590 and in addition with

  • 2 kHz sample rate and a measuring range (spectrum) of 40 nm (range: 1525 - 1565 nm) or
  • 0.5 kHz sample rate and a measuring range (spectrum) of 160 nm (range: 1460 - 1620 nm)
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