Rohs测量仪XRF-X3

        XRF-X3 技术参数

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         仪器测试范围：

    从磷P-铀U之间的元素

          RoHS限定有害元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br + 卤素

          合金：铜材，铁合金，镍合金，锡合金，钛合金，贵金属

          镀层：Ag/Sn/Au/Ni—Cu，Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe

   2

         样品种类：

          固体、液体、粉末；

   3

         低检出限：

          RoHS：Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm 、Pb≤5ppm、Cl≤60ppm

          成分分析：0.01%--99.99%

     镀层分析：0.0035um--40um

  4

         测试时间：

          60s-200s(软件自动调整)

  5

         摄像定位系统：

          500万真像素高清定位系统；

    6

         X射线光管：

          型号：XF50Mo

          生产厂家：西凡科技

          窗口材料：金属铍

          使用寿命：大于20000小时

   7

          探测器：

          型号：100CR+ DP5+PX5

          生产厂家：美国Amptek

          电制冷Si-Pin 探测器 

          分辨率145ev±5

          1mil铍窗厚度  （X123由100CR+DP5+PX5）

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          高压电源：

          型号：X3513

          生产厂家：咸阳威思曼

          0-50kev，0-2mA   大50W

  9

          高压保护措施

          过压自保护，自恢复

  10

          集成工业计算机： 

         （电脑一体机）

          4G内存，1.6G双核CPU

          操作系统：正版Windows7   （无需外接电脑）

   11

           准直滤光系统：

         光斑大小：φ1mm、3mm、4mm(软件自动选择)

          滤光系统：9种3组（软件自动选择）

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          工作环境温度：

          温度 :15-30℃  ；湿度：≤75% （不结露）

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          输入电源：

          AC 220V±15%，50Hz

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         仪器尺寸：

          650mm*450mm*350mm

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         测试样品腔尺寸：

          280mm*280mm*200mm

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          辐射防护标准：

    高于国标GB18871-2002 GBZ115-2002标准