X射线荧光光谱法(XRF)测量钡永磁铁氧体中的铁钡含量

X射线荧光光谱法(XRF)测量钡永磁铁氧体中的铁钡含量,X射线荧光光谱法(XRF)测量钡永磁铁氧体中的铁钡含量

X射线荧光光谱法(XRF)在钡永磁铁氧体半成品分析中的应用,对比了粉末压片和玻璃熔片两种制样方法,使用熔片法制样建立标准曲线测定了其中的Fe、Ba等元素的含量。结果表明,Fe、Ba等元素含量的测定偏差0.3%,平行测定9次相对标准偏差(RSD)可达到0.5%以下。与传统化学法测定相比,XRF可同时测定两种元素,测定每个样品仅需要1min,极大地提高了工作效率。

江苏天瑞仪器股份有限公司   股票代码：300165   国内家分析仪器上市企业

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EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
  该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
  另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
  
  性能特点
  高效薄窗X光管，指标达到国际水平
  新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
  SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
  天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上
  低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
  智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
  自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
  高信噪比的电子线路单元
  针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
  解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
  多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
  内置高清晰摄像头
  液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数
  产品型号：EDX 4500H
  产品名称：X荧光光谱仪
  测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
  元素含量分析范围：ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
  同时分析元素：一次性可测几十种元素
  分析精度：0.05%（含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性）
  测量时间：30秒-200秒
  探测器能量分辨率为：145±5eV
  管压：5KV-50KV
  管流：50μA-1000μA
  测量对象状态：粉末、固体、液体
  输入电压：AC 110V/220V
  环境温度：15℃-30℃
  环境湿度：35%-70%
  样品腔体积：320mm×100mm
  外形尺寸：660mm×510mm×350mm
  重量：65Kg
  
  标准配置 
  高效薄窗X光管
  SDD硅漂移探测器
  数字多道技术
  信噪比增强器 SNE
  光路增强系统

高信噪比电子线路单元
  内置高清晰摄像头
  自动切换型准直器和滤光片
  自动稳谱装置
  三重安全保护模式
  可靠的整体钢架结构
  90mm×70mm的状态显示液晶屏
  真空泵
  
  应用领域
  合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）