EDX4500H X射线荧光光谱法(XRF)在永磁铁氧体半成品分析中的应 用,使用标准曲线测定了其中的Fe、Sr、Si等元素的含量.结果表明,Fe、Sr、Si等元素含量的测定偏差＜0.3％,平行测定11次相对标准偏差 (RSD)可达到0.1％.与传统化学法测定相比,XRF可同时测定三种元素,每个样品测定时间在2分钟以内,极大的提高了工作效率.
江苏天瑞仪器股份有限公司 股票代码：300165 国内家分析仪器上市企业
公司：江苏昆山市西路1888号 深圳分公司 地址：深圳宝安松岗芙蓉东路天瑞大厦
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性能特点
高效薄窗X光管，指标达到国际水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
技术参数
产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
分析精度：0.05% （含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性）
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
标准配置
高效薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
信噪比增强器 SNE
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）
