摘要：
本文针对天光测控ST-DC2000_X半导体管特性图示仪的产品详情，产品特点和使用领域做简单描述。如有更多了解需求，可来电垂询，为您做更*详尽的解答。
产品详情——
显示半导体器件的各种特性曲线；测量半导体器件的静态参数；能在不损坏器件的情况下，测量半导体器件的极限参数；晶体管双簇显示）垂询。
参数查看，快速清晰——
大胆发现从未如此简单。ST-DC2000_X半导体管特性图示仪可将和测试设置的复杂程度降低高达 50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外，嵌入式测量专*知识（业界开创）可提供测试指南并让您对结果充满信心。
测量、 切换、 重复——
ST-DC2000_X半导体管特性图示仪多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。
特点——
1. ◆无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
2. ◆用户可配置低电流功能
3. ◆个性化输出通道名称
4. ◆查看实时测试状态
天光测控保障计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。 只需点击一下或拨打一个电话即可获得维修服务，在此过程中，无需报价或填写采购单，也不会有审批延误。
如有更多了解需求，欢迎垂询，
天光测控 2020.05.28/叶
