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世通魏工分享：光电雾度仪的原理
雾度是透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比，用百分数表示。通常仅将偏离入射光方向2.5度以上的散射光通量用于计算雾度。光电雾度仪是根据GB2410-80及ASTM D1003-61(1997-2004)设计的小型雾度仪。适用于平行平板或塑膜样品的测试，能广泛应用于透明、半透明材料雾度、透光率的光学性能检验。
光电雾度仪具有结构小巧，使用操作方便的特点。光电雾度仪适用于各种材料的透光率和雾度值的测定。一束平行光束入射某介质(如透明塑料)时，由于物质光学性质的不均匀性;表面缺陷，内部组织的不均匀，气泡和杂质存在等，光束就会改变方向(扩散和偏折)，产生的部分杂乱无章光线称散射光。
上规定用透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比用百分数来表示，这就是所谓雾度。雾度大的试样给人的感觉将更加模糊。
否则,有可能造成光缆打滚折断纤芯。分纤将光纤穿过热缩管。将不同束管，不同颜色的光纤分开，穿过热缩管。剥去涂覆层的光纤很脆弱，使用热缩管，可以保护光纤熔接头。打开古河S176熔接机电源，采用预置的42种程式进行熔接，并在使用中和使用后及时去除熔接机中的灰尘，特别是夹具，各镜面和V型槽内的粉尘和光纤碎未。CATV使用的光纤有常规型单模光纤和色散位移单模光纤，工作波长也有1310nm和1550nm两种。
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光线在透过试样时还会产生损失，即穿过试样的透射光通量永远小于照射到试样上的入射光通量。两者之比，用百分数表示，上定义为透光率。引起透光率下降的原因是试样两个表面对光线的反射和试样对入射光线的全波长或部分波长的光能量吸收等。
光电雾度仪是根据GB2410-80及ASTM D1003-61(1997-2004)设计的小型雾度仪。适用于平行平板或塑膜样品的测试，能广泛应用于透明、半透明材料雾度、透光率的光学性能检验。光电雾度仪具有结构小巧，使用操作方便的特点。光电雾度仪适用于各种材料的透光率和雾度值的测定
市面上的多通道量产型编程器，通常都只有一路过流检测保护电路，检测到电源过流后直接关闭电源输出。这种设计在一定程度上能起保护作用，但也存在明显的缺陷：其中一个通道发生过流时，触发过流保护并关闭电源输出，导致其他正常的通道无法烧录；过流阀值设置的很高，当只有一个通道电源短路时，短路电流可能达不到过流阀值而无法触发过流保护，导致该通道相应电源控制电路被烧毁；在板烧写时，如果板上有大容量电容，上电瞬间浪涌电流过大，可能误触发过流保护将电源关闭，导致烧录失败.为了解决这些问题，结合ZLG致远电子十多年编程器的研发经验，并收集了各行业客户反馈的建议后，我们在推出的P800系列编程器中重构了编程器的过流检测保护机制，核心设计是在每个编程通道都有过流检测保护。
一束平行光束入射某介质(如透明塑料)时，由于物质光学性质的不均匀性;表面缺陷，内部组织的不均匀，气泡和杂质存在等，光束就会改变方向(扩散和偏折)，产生的部分杂乱无章光线称散射光。上规定用透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比用百分数来表示，这就是所谓雾度。雾度大的试样给人的感觉将更加模糊。光线在透过试样时还会产生损失，即穿过试样的透射光通量永远小于照射到试样上的入射光通量。两者之比，用百分数表示，上定义为透光率。
引起透光率下降的原因是试样两个表面对光线的反射和试样对入射光线的全波长或部分波长的光能量吸收等。在测试样品的雾度和透光率过程中，必须计量入射光通量(T1)，透射光通量(T2)、仪器散射光通量(T3)，试样的散射光通量(T4)。在测试样品的雾度和透光率过程中，必须计量入射光通量(T1)，透射光通量(T2)、仪器散射光通量(T3)，试样的散射光通量(T4)。
数据处理按"GB2410-80"试验方法，本机透光率和雾度值计算方法如下:
透光率:Tt= T2/ T1×其中T1为100 光电雾度仪雾度: H= T4/ Tt× T3为0
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