PV016R1K1AYN100
PV016R1K1T1NMMC
PV016R1L1T1NFDS
PV016R1K1T1NELB
PV016R1K1T1NECC
PV016R1K1T1NFFD
PV016R1K1T1NFRC
PV016R1K1T1N001
PV016R1K1T1N100
PV016R1K1T1NFDS
PV016R1K1T1NFR1
PV016R1K1T1NFHS
PV016R1K1T1NMM1
PV016R1K1T1NMRC
PV016R1K1T1NFWS
PV016R1K1T1NFF1
PV020R1K1T1N001
PV020R1K1T1N100
PV020R1K1T1NFDS
PV020R1K1T1NFR1
PV020R1K1T1NFHS
PV020R1K1T1NMMC
PV020R1K1T1NMM1
PV020R1K1T1NMRC
PV020R1K1T1NFWS
PV020R1K1T1NFRC
PV020R1K1T1NFF1
PV020R1K1T1NHLC
PV020R1K1T1WMM1
PV020R1K1T1NBLC
PV020R1K1T1NFRL
PV020L1K1T1NFWS
PV020R1K4T1NFR1
PV020R1K1AYNMMC
PV020R1K8T1VMMC
PV020R1K1T1NMR1
PV020R1K1T1NFRZ
PV020R1K4T1NFHS
PV020R1K1A1NMMC
PV020R1K1T1NMMK
PV020R1K1T1NKLC
PV020R1K1T1NMF1
PV020R1K1T1WFDS
PV020R1K1T1WFR1
PV020R1K1T1WMMC
PV020R1K1T1NMRZ
PV020R1K1T1WMRC
PV020R1K1T1NF
PV020R1K1T1NFFP
PV020R1K1JHNMMC
PV020R1K8T1NFWS
PV020R1K1AYNMRZ
PV020R1K1T1VMMC
PV020R1K1T1WMR1
PV020R1K4T1NMR1
PV020R1K1T1NHCC
PV020R9K1T1NMMC
PV020R1K8T1NMMC
PV020R1K8T1N001
PV020R1K1T1NFFC
PV020R1K4T1NMMC
PV020R1L1T1NMMC
PV020L1K1T1NMMC
PV020R1K1S1NFWS
PV020R1K1T1NGLC
PV020R1K1T1NMRK
PV020R1K1T1VFDS
PV023R1K1T1N001
PV023R1K1T1N100
PV023R1K1T1NFDS
PV023R1K1T1NFR1
PV023R1K1T1NFHS
PV023R1K1T1NMMC
PV023R1K1T1NMM1
PV023R1K1T1NMRC
PV023R1K1T1NFWS
PV023R1K1T1NFRC
PV023R1D1T1NMMC
PV023R1D1T1NUPR
PV023R1D3T1NMMW
PV023R1E1T1NMFC
PV023R1E1T1NUPR
PV023R1K1AYNMMC
PV023R1K1AYNMMD
PV023R1K1AYNMMW
PV023R1K1AYNMRC
PV023R1K1AYNMR1
PV023R1K1A1NECC
PV023R1K1T1NCCC
PV023R1K1T1NCLC
PV023R1K1T1NDCC
PV023R1K1T1NDCD
PV023R1K1T1NDLC
PV023R1K1T1NDLD
PV023R1K1T1NDL1
PV023R1E1T1NGLC
PV023R1K8T1VFHS
PV023R1K1A1NFWS
PV023R1L1T1NFRC
PV023R1L1T1NCLC
PV023R1K1T1NBCC
PV023R1K1T1NF
假如流量计需求装在个上的测验用具中，那么，这些删具都需求加以阐明：参比规范体系的度等级*少应优于被试设备度等级的倍。在实验时期，电磁流量计流量计的任何凋整都应记载，而且应删定在参比条件下这些调整对陛能的影响，并以输出量程的百分数表明。在上游直管的人口处，液流应呈轴对称，而且没有显着的脉动和旋涡.应当认识到，用于流量丈量的参比规范设备有很多型式，那些直接按质量、长度和时刻等基本单位来丈量的设备通常被称为主基准。
PV023R1K1T1NECC
PV023R1K1T1NELC
PV023R1K1T1NEL1
PV023R1K1T1NGCC
PV023R1K1T1NGLC
PV023R1K1T1NGL1
PV023R1K1T1NMFC
PV023R1K1T1NMFW
PV023R1K1T1NMF1
PV023R1K1T1NMMD
PV023R1K1T1NMMW
PV023R1K1T1NMRD
PV023R1K1T1NMR1
PV023R1K1T1NUPD
PV023R1K1T1NUPE
PV023R1K1T1NMMK
PV023R1K1AYNMRZ
PV023R1K1T1WFR1
使用组合透镜系统对物体成像，实现加电时液晶透镜区域清晰，具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量分析模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向：液晶透镜成像系统测试目的：展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果，测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF，分析其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程：1.实验室制备液晶透镜，并通过干涉法获取波前信息，分析得到zernike系数，得到液晶透镜的性能参数，以选择合适的驱动电压；组装成像系统，对不同区域的物体进行成像实验；使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试，测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。
