SMC过滤器包括过滤壳体，其特征是：产品的过滤壳体上端连接上盖，下端连接下盖，上盖上设置进水口和出水口；在产品的过滤壳体内设置上下两层滤芯，滤芯上端连接上连接盖，滤芯下端连接下连接盖，滤芯与过滤壳体之间形成导流槽，进水口与导流槽连通。产品的上连接盖中部形成凸台，凸台伸入上盖上的连通孔中，连通孔与出水口连通，在凸台中间设置连通滤芯的内腔和连通孔的*通孔；在产品的凸台的外侧设置第二密封圈，在上连接盖的上端面固定第三密封圈；产品的下连接盖的中部形成凹槽部，凹槽部的内腔尺寸与凸台的尺寸相配合，下层滤芯通过凸台和凹槽部与上层滤芯配合。
日本SMC过滤器的过滤过程及原理二是因为每一台过滤器的透过率也很难事先搞准确。所以长期以来,在实测中使用的是一种简便方法(对于不高于ISO 5级的洁净环境),即,不计过滤器前浓度(认为都符合要求,详见下文),SMC过滤器只要中流量粒子计数器(2·83L/min),每分钟读数不大于三个,即认为不漏。后来有关规范中更放宽到3粒/L为界限。日本SMC过滤器事实证明,当ISO 5级工作区高度或其以上某高度的一个区域浓度偏大时,用上述方法检漏,一般均能找到相应的漏泄点。粒子计数器法明显比光度计法简便,大气尘法明显比DOP法没有污染。但是由于受美国标准影响,国际上某些领域如制药行业,仍坚持用DOP光度计法。直到2005年, ISO 14644-1才明确指出:(1) DOP光度计法用于透过率>0·005%的过滤器系统检漏,即对0·3μm单分散气溶胶效率不大于99·995%的过滤器(相当于我国B~C类过滤器);(2) DOP光度计法只适用于当沉积在过滤器和管道上的挥发性有机测试气溶胶释放出的气体对洁净室内的产品或工艺不是有害的,如核设施的过滤器检漏;(3)人工气溶胶的粒子计数器法适用于过滤器透过率≤0·0000005%的检漏,即效率≥99·9999995% (按为对0·3μm微粒)过滤器检漏;(4)粒子计数器法比光度计法更为灵敏,造成的污染小,对检漏来说既有精度也有速度;(5)上游加入的人工气溶胶有:甲基苯二甲酸盐、癸二酸二酯、聚苯乙烯乳胶球等。由此可见, ISO标准充分肯定了粒子计数器法,并且在气溶胶源中也列入了大气气溶胶。但在具体应用上仍着重介绍发生人工气溶胶,没有介绍大气尘气溶胶的可行性。日本SMC过滤器这就使检漏不免仍有困难,给系统和过滤器留下附加物质。如果可以既用粒子计数器,又用大气尘来检漏,则是工程上简捷的办法。由于现场检漏对过滤器既有效率并不感兴趣,而关心的是有无漏孔漏泄,不论何种效率过滤器,只要有漏孔,孔前后压差一定,就都有相同的漏泄量。因此只需确定漏不漏,而对漏的定量并无需要,在这一目的下,还必须弄清楚以下问题:
