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针对材料屈服点的求取主要的有下列几点:传感器放大器频带太窄由于目前试验机上所采用的力值检测元件基本上为载荷传感器或压力传感器,而这两类传感器都为模拟小信号输出类型,在使用中必须进行信号放大。众所周知,在我们的环境中,存在着各种各样的电磁干扰信号,这种干扰信号会通过许多不同的渠道偶合到测量信号中一起被放大,结果使得有用信号被干扰信号淹没。为了从干扰信号中提取出有用信号,针对材料试验机的特点,一般在放大器中设置有低通滤波器。
这种效果通常是使锂漂移进入P型半导体材料,进行补偿而获得。由于锗比硅对射线有更高的探测效率,故一般采用锗。这种探测器的灵敏体积可大于2厘米3。但是,由于其死层较厚,故在探测较低能量的X射线时,往往采用硅。锂漂移型探测器的另一个特点,是当它被用来探测X及射线时必须保持在低温(77K)和真空中工作。高纯锗探测器随着锗半导体材料提纯技术的进展,已可直接用纯锗材料制备辐射探测器。它具有工艺简单、制造周期短和可在室温下保存等优点。
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