P+F传感器RLK31-8-1200-RT/31/115操作误区
故障分析：
如光照强度不能出额定范围；如果现场环境有粉尘
，就需要我们定期清理光电传感器探头表面；或者是
谓漫反射式是指恒光源发出的光投射到被测物上，再
从被测物体表面反射后投射到光电元件上；要考虑传
多个传感器紧密安装，互相产生干扰；还有一种影响
比较大的是电气干扰，如果周围有大功率设备，产生
漫反射式，遮光式(光束阻档)三大类。所谓透射式是
指被测物体放在光路中，恒光源发出的光能量穿过被
干扰时必须要有相应的抗干扰措施。模拟式光电传感
器按被测量(检测目标物体)方法可分为透射(吸收)式，
测物，部份被吸收后，透射光投射到光电元件上；所
光轴必须对准，对应的回归反射型的探头部分和反光
感器光轴有没有对准问题，对射型的投光部和受光部
板光轴必须对准。
NCB2-12GM40-Z0
NCB2-12GM40-Z1
NCB2-12GM40-Z0-V1
NCB2-12GM40-Z1-V1
NCB4-12GM35-Z4
NCB4-12GM35-Z5
NCB4-12GM40-Z4-V1
UB200-12GM-E4V1
UB200-12GM-E5-V1
UB200-12GM-I-V1
UB200-12GM-U-V1
UB3000+U9+H3
光电效应：
它是光照射到某些物质上，使该物质的导电特性发生
用下物体内的电子逸出物体表面向外发射的物理现象
。光子是以量子化“粒子”的形式对可见光波段内电
变化的一种物理现象，可分为外光电效应和内光电效
应和光生伏*应三类。外光电效应是指，在光线作
磁波的描述。光子具有能量hv，h为普朗克常数，v为
光频。光子通量则相应于光强。
型号：
NBB2-12GM40-Z3-V1
UB300-18GM40A-E4-V1
UB300-18GM40A-E5-V1
UB300-18GM40A-I-V1
NCB4-12GM40-Z5-V1
NBN4-12GM40-Z0
NBN4-12GM40-Z0-V1
NBN4-12GM40-Z3-V1
NCN4-12GM35-NO
NCB50-FP-E2-P1
NCN8-18GM40-N0
NCN25-F35-A2-250-V1
NCB5-18GM40-N0-5M
UB1000-18GM75-U-V15
UB120-12GM-E4-V1
UB120-12GM-E5-V1
UB120-12GM-I-V1
UB120-12GM-U-V1
UB2000-30GM-E4-V15
UB2000-F42S-E7-V15
UB2000-F42S-I-V15
UB2000-F42S-U-V15
UB2000-F42-U-V15
NCB2-12GM35-NO
NCB15-30GM50-Z5
NCN4-12GM35-N0-10M
NCB2-12GM35-N0
NCB10-30GM40-N0
NCN15-30GM60-Z0
NCN15-30GM40-Z0
NCB10-30GM40-NO
NCN15-30GM40-N0
NCB4-12GM40-Z4-V1
NCB15-30GM50-Z4
NCB10-30GM40-N0-V1
UB2000-30GM-E5-V15
UB2000-30GM-H3-V1
UB2000-F42-E4-V15
UB2000-F42-E5-V15
UB2000-F42-E6-V15
UB2000-F42-E7-V15
UB2000-F42-I-V15
UB2000-F42S-E4-V15
UB2000-F42S-E5-V15
NCN4-12GM40-Z0
NCN4-12GM40-Z1
NCN4-12GM40-Z0-V1
NCN4-12GM40-Z1-V1
NCN8-12GM35-Z4
NCN8-12GM35-Z5
NCN8-12GM40-Z4-V1
NCN8-12GM40-Z5-V1
P+F传感器RLK31-8-1200-RT/31/115操作误区
