x-ray膜厚仪THICK800A
高精度二维移动采样平台，探测器和X光管上下移动实现三维移动。
双重激光定位设备。
铅质玻璃罩
西-潘探测器
讯号探测电子电路
高、低压电源
X-光管
高感应器
防护传感器
电脑和喷墨打印机。
适用范围。
检验金、铂、银等贵金属和各种饰的含量。
测量金属镀层厚度，测定镀液及镀层含量。
该
仪器主要应用于贵金属加工及珠宝加工行业、银行、珠宝销售及检测机构、电镀行业等。
设备简介
x-ray膜厚仪是天瑞集团多年研发的款镀层工业用测试仪，可全自动软件操作、多点测试、由软件控制仪器的测试点和移动平台。作为个功能强大的仪器，配上门为其开发的软件，在电镀行业可谓大展身手。
工作特性。
能满足不同厚度样品及不规则表面样品的检测要求。
直径为0.1mm的小孔准直仪能够满足微小测试点的要求。
高度在0.005毫米以下的移动平台定位试验，重复定位试验。
利用高度定位激光，对测试高度进行自动定位。
用定位激光器定位光斑，确保测试点与光斑致。
滑鼠控制移动平台，滑鼠点击的位置即为被测点。
高分辨探针使分析结果更。
光线屏蔽效果好；
高灵敏度试验传感器保护装置。
技术性指标
模型：Thick800A。
从硫(S)到铀(U)都有元素分析。
可同时分析30多种元素，镀有五层。
涂层无损伤厚度计
涂层厚度通常在50微米以内(每种材料各不相同)
有多种可选的分析与识别模式。
互不相关的基体效应修正模型
多元非线性回收器。
该温度范围为15~30℃。
电镀无损测厚仪电源：交流220V±5V，采用交流净化稳压电源。
外形尺寸：576(W)×495(D)×545(H)mm。
样箱尺寸：500(W)×350(D)×140(H)毫米。
体重：90千克。
