PV016R1K1AYN100
PV016R1K1T1NMMC
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PV016R1K1T1NELB
PV016R1K1T1NECC
PV016R1K1T1NFFD
PV016R1K1T1NFRC
PV016R1K1T1N001
PV016R1K1T1N100
PV016R1K1T1NFDS
PV016R1K1T1NFR1
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PV016R1K1T1NMM1
PV016R1K1T1NMRC
PV016R1K1T1NFWS
PV016R1K1T1NFF1
PV020R1K1T1N001
PV020R1K1T1N100
PV020R1K1T1NFDS
PV020R1K1T1NFR1
PV020R1K1T1NFHS
PV020R1K1T1NMMC
PV020R1K1T1NMM1
PV020R1K1T1NMRC
PV020R1K1T1NFWS
PV020R1K1T1NFRC
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PV020L1K1T1NFWS
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PV020R1K1AYNMMC
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PV020R1K1T1NMR1
PV020R1K1T1NFRZ
PV020R1K4T1NFHS
PV020R1K1A1NMMC
PV020R1K1T1NMMK
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PV020R1K1T1WFDS
PV020R1K1T1WFR1
PV020R1K1T1WMMC
PV020R1K1T1NMRZ
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PV020R1K1T1NF
PV020R1K1T1NFFP
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PV020R1K1AYNMRZ
PV020R1K1T1VMMC
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PV020R1K1T1NHCC
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PV020R1K1T1NFFC
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PV020L1K1T1NMMC
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PV023R1K1T1N001
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PV023R1K1T1NFDS
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PV023R1K1T1NMMC
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PV023R1K1T1NFRC
PV023R1D1T1NMMC
PV023R1D1T1NUPR
PV023R1D3T1NMMW
PV023R1E1T1NMFC
PV023R1E1T1NUPR
PV023R1K1AYNMMC
PV023R1K1AYNMMD
PV023R1K1AYNMMW
PV023R1K1AYNMRC
PV023R1K1AYNMR1
PV023R1K1A1NECC
PV023R1K1T1NCCC
PV023R1K1T1NCLC
PV023R1K1T1NDCC
PV023R1K1T1NDCD
PV023R1K1T1NDLC
PV023R1K1T1NDLD
PV023R1K1T1NDL1
PV023R1E1T1NGLC
PV023R1K8T1VFHS
PV023R1K1A1NFWS
PV023R1L1T1NFRC
PV023R1L1T1NCLC
PV023R1K1T1NBCC
PV023R1K1T1NF
工频电磁场波形由于是测量电路存在周期性波动，那工频电磁场扰动的可能性更大，用示波器观测工频电磁场波形如，一般认为50Hz工频电磁场干扰是由两方面原因产生：-50Hz工频干扰通过传导进入系统；-50Hz工频干扰通过空间耦合进入系统。针对上述问题，消除50Hz工频电磁场干扰的方法也相对明确，有下述四种方案可供电路设计者去参考：利用电气隔离，阻断工频干扰的传导路径；-敏感电路处搭建共模和滤波电路，滤除进入输入通道的工频扰动；-软件中构建IIR陷波或者FIR带阻数字滤波器，消除工频干扰对测量结果的影响；-降低测量引线回路面积，增加，减弱空间耦合效应。
PV023R1K1T1NECC
PV023R1K1T1NELC
PV023R1K1T1NEL1
PV023R1K1T1NGCC
PV023R1K1T1NGLC
PV023R1K1T1NGL1
PV023R1K1T1NMFC
PV023R1K1T1NMFW
PV023R1K1T1NMF1
PV023R1K1T1NMMD
PV023R1K1T1NMMW
PV023R1K1T1NMRD
PV023R1K1T1NMR1
PV023R1K1T1NUPD
PV023R1K1T1NUPE
PV023R1K1T1NMMK
PV023R1K1AYNMRZ
PV023R1K1T1WFR1
图1生产自动化的分层模型以及对数据通信系统的要求要求对过程变量进行采集和控制的设备位于自动化的层——现场层。除了控制单元以外，还包括人机接口/终端、传感器、执行器和各种复杂的驱动系统。智能传感器、测量转换器、驱动系统和控制设备的使用也正逐渐增加。现场总线控制系统（FCS）为一种全新的分布式控制测控系统。传统的控制系统中用于连接传感器和执行器的昂贵布线在现代工厂中被串行总线系统所取代（现场总线系统、传感器－执行器－总线系统）。
