eLiPMS-2000plus半导体粉末电阻率测试全自动四探针仪

发布时间:2021-08-31

eLiPMS-2000plus半导体粉末电阻率测试全自动四探针仪产品介绍

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产品特点:

1) 内置的精密四探针探头模腔组件及精密荷重测力传感器单元,*施加压力30KN,约95MPa;

在*压力范围内可设置任意压力点进行测试分析。一键启动,自动进行加压、测试、释放。

 

2) 简易操作软件界面,可设置不同压力点及保压时间(保压时间到再测试),自动测量压实下粉末之电阻、电阻率、电导率、厚度、压强、颗粒压实密度特性等参数。

 

3) 系统通过与三菱化学LORESTA-GX(MCP-T700)高精度四探针仪连接,可测试宽范围之粉体阻抗特征。

电阻测试范围:0.001*10-4~9.999*107Ω;

电阻率=Ω*RCF*t(RCF为纠正因子,t为厚度单位cm)

 

4) 的探针单元,高精度四探针测试原理,消除样品与探头及引线所引起的误差。

   也可以裁剪φ20mm的正负电极片样品来测试电池极片在不同压力下的电阻变化;

或者单独使用MCP-T700及其标配探头或选配探头来测试片材,所谓多用途。

测试领域:

碳    粉--- 充电电池的电极材料、电子材料(电容器,电阻等)、活性炭、焦、石墨、碳黑色、

碳纤维纳米碳等。

金属粉末--- 电池的电极材料、薄膜材料(铜粉末、ITO粉末等等)、导电膏、导电油漆和涂料、绿色接触材料等。

其它粉末--- 墨粉和相关的粉体/磁性材料如铁素体、汽车配件等材料。


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