热工类仪器校准:温度计、温湿度计、烤箱、恒温恒湿机、盐雾试验机、耐寒试验机、耐黄变试验机、熔融指数试验机、电线加热变形试验机、温度巡检仪、炉温测试仪、多点采集器、恒温槽(水槽、油槽、水浴锅)、辐射温度计等。
理化类仪器校准:可调移液器、常用玻璃量器（量筒、烧杯、容量瓶等）、pH计、密度计、波美计、白度计、声级计、照度计、光泽度计、旋转粘度计、紫外分光光度计、原子吸收分光光度计、色差仪、电位滴定仪、X射线荧光光谱仪（ROHS检测仪）、电导率仪、气相色谱仪、液相色谱仪、频闪仪、透光率仪、木材水分测湿仪、标准光源箱等。
北京市石景山气体报警器校准图(1)
经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器。调制光谱仪是非空间分光的，它采用圆孔进光根据色散组件的分光原理,光谱仪器可分为:
棱镜光谱仪，衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪.光学多道OMA(Optical Multi-channel Analyzer)是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的*光谱分析仪器,它集信息采集，处理，存储诸功能于一体。
由于OMA不再使用感光乳胶,避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理，测量工作，使传统的光谱技术发生了根本的改变,大大改善了工作条件，提高了工作效率：
使用OMA分析光谱，测盆准确迅速，方便，且灵敏度高，响应时间快，光谱分辨率高，测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机，绘图仪输出。
它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量，分析及研究工作中,特别适应于对微弱信号，瞬变信号的检测。
封测是封装和测试制程的合称，其中封装是为保护芯片不受环境因素的影响，而将晶圆代工厂商制造好的集成电路装配为芯片的过程，具有连接芯片内部和外部电路沟通的作用;测试环节的目的是检查出不良芯片。作为半导体核心产业链上重要的一环，封测虽在摩尔定律驱动行业发展的时代地位上不及设计和制造，但随着“越摩尔时代”概念的提出和到来，*封装成为了延续摩尔定律的关键，在产业链上的重要性日渐提升。既然*封装将成为行业未来发展的关键推动力，那么我们就有必要对封装产业尤其是国内的封装产业进行一个大致的了解，以便窥探产业未来发展趋势。
北京市石景山气体报警器校准图(2)
发射光谱分析的过程
光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量。
1．把试样在能量的作用下蒸发、原子化(转变成气态原子)，并使气态原子的外层电子激发至高能态。当从较高的能级跃迁到较低的能级时；
TestCenter开发平台为诊断程序的开发提供了支持，包括图形化的故障建模工具、IEEE1232标准的诊断推理机、故障诊断程序开发等。IEEE1232标准为故障树分析在内的几种故障诊断方法建立了相应的诊断信息模型，并了两种格式来描述这些信息模型，使之成为可交换文件。标准还定义了符合IEEE1232标准的诊断推理机。交换文件由推理机解析，对诊断起指导作用。IEEE1232推理机通过服务接口与测试系统交互。
原子将释放出多余的能量而发射出特征谱线。这一过程称为蒸发、原子化和激发，需借助于激发光源来实现。
2．把原子所产生的辐射进行色散分光，按波长顺序记录在感光板上，就可呈现出有规则的光谱线条，即光谱图。系借助于摄谱仪器的分光和检测装置来实现。
北京市石景山气体报警器校准图(3)
3．根据所得光谱图进行定性鉴定或定量分析。由于不同元素的原子结构不同，当被激发后发射光谱线的波长不尽相同；
即每种元素都有其特征的波长，故根据这些元素的特征光谱就可以准确无误的鉴别元素的存在(定性分析)；
仪器的校准：送至认可之校验单位校验，提供检验报告书，并可追溯溯源。内校：使用可追溯经校验合格的标件，作为厂内仪器的内校依据，由厂内合格校验人员执行校验游校：须进行外校仪器/设备由于体积态大或灵敏度很高不方便搬动，第三方检测机构人员下厂进行校验。
当仪表的桥路电源接地时，除桥路输出不平衡信号电压以外，信号线对地还有一公共电压，该公共电压不是所要测量的信号电压，而是共模干扰的一种表现。数显仪表消除干扰的措施信号传输导线使用双绞线，能使两根信号线到干扰源的距离大致相等，分布电容也大致相同，所以能使进人数显表的串模干扰大大减小。为了防止电场的干扰，可把信号线穿入铁管中，或者使用线，并对层采取一点接地。对于直流信号，可在数显表输入端加滤波电路，把杂散信号干扰衰减至，信号线要远离动力线，信号线与电源线不要统一孔进入仪表内，信号线应以尽量短的绞线接至信号端子的相邻位置上。
波形累积二参数测量仅仅通过波形的直观表现分析异常信号，需要工程师对于波形特性有一定的了解，ZDL6示波记录仪标配55种自动测量参数，可在采集的同时，将各项指标量化，通过测量参数列表的实时统计显示，迅速发现异常数据。并通过历史统计功能，到异常信号产生瞬间。自动测量观察异常数据历史统计异常数据三GO-NOGO条件判断通过波形累积或者参数测量，需要工程师肉眼观察分析波形处理后的数据，而历史记录也有数量上限。
