MI2042BF涂层测厚仪
具有*的测量技术和简单的操作方法，是的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。
MI2042BF涂层测厚仪利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。
MI2042BF涂层测厚仪是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
特点概述：
◆大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
◆校准选项
◆出厂时已校准，立即可用
◆在未知涂层上校准*
◆零校准*
◆在无涂层的基体上一点和多点校准*
◆在有涂层的基体上校准*
◆校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中，也可以随时调出
◆可选择的显示模式，以*形式去完成测量任务*
◆输入和极限监视*
◆在Windows下有简单的存储读数档案管理*
◆可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
◆统计*
◆可统计评估999个读数
◆*小值、*值、测量个数、标准偏差和极限监视
◆局部厚度和平局膜层厚度（DIN EN ISO 2808）
◆在线统计，所有统计值概括
技术资料：
◆数据传输接口RS232 或 USB
◆电源：电池、充电电池、USB或外接电源
◆测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
◆测量速度: 每秒测量２个数值
◆存储: *多 9999 个数值，140个文件
◆误差:
◆涂层厚度 < 100 祄: 1 % 的数值 +/- 1 祄 (校准后)
◆涂层厚度 > 100 祄: 1..3 % 的数值 +/- 1 祄
◆涂层厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的数值 +/- 10 祄
◆涂层厚度 > 10000 祄: 5 % 的数值 +/- 100 祄
普通型 | 铁基膜层测厚仪标准套 | 2042F | ||
非铁基膜层测厚仪标准套 | 2042NF | |||
铁基/非铁基膜层测厚仪标准套 | 2042 | |||
数据型 | 铁基 | 2042 Fe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量*，仪器箱 | 2042 EF | |
2042 Fe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量*，仪器箱 | 2042DF | |||
非铁基 | 2042 NFe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量*，仪器箱 | 2042ENF | ||
2042 NFe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量*，仪器箱 | 2042DNF | |||
铁基/非铁基 | 2042 Fe/NFe Set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量*，仪器箱 | 2042 E | ||
2042 Fe/NFe Data Set----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量*，仪器箱 | 2042 D |
附件：
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里
