日本hirotass SSD紧凑型老化测试系统

日本hirotass SSD紧凑型老化测试系统

该系统是一个紧凑型系统，用于对具有各种接口的 SSD 进行老化测试。

* 如果您想进行低温测试，请随时与我们联系。

【支持接口】

• PCIe Gen4
• PCIe 第三代
• SATA III
• SAS II（选项）

[支持协议]

• NVMe 1.4
• NVMe 1.3
• AHCI

【支持SSD类型】

• 附加卡
• M.2
• U.2
• EDSFF

采用

特征

*多可以同时测试 4 个 SSD。
它是一个紧凑的系统，可以在桌面上进行老化测试。
通过选择驱动单元，可以测试插卡类型、M.2、U.2、EDSFF。
允许在很宽的温度范围内进行测试。（室温至+ 85°C）
驱动器接口支持PCIe Gen4、PCIe Gen3、SATA和SAS。
驱动器有两个电源。(PCIe Gen4 / Gen3: 3.3V, 12V SATA / SAS: 5V, 12V)
可以对每个设置驱动器的端口进行独立控制和电压/电流测量。
可以进行温度控制和接口测试同步进行的测试。
安装在端口上的 LED 可用于确定测试状态和结果。
支持SSD低功耗模式（L1.2）下的微小电流测量。（测量精度：± 5% rdg. ± 10dgt .: At 100μA to 1mA）
端口数量、温度范围等可定制。