长度类仪器校准:卡尺、千分尺、钢直尺、角度尺、塞尺、测厚规、针规、塞规、环规、半径规、高度规、刮板细度计、码表、百分表、千分表、网筛、量块、大理石平台、平行平晶、水平仪、表面粗糙度仪、投影仪、3次元、工具显微镜、伸长率仪、膜厚计、码表、超声波测厚仪、锡膏厚度仪等
角度尺的读数机构是根据游标原理制成的。主尺刻线每格为1°。游标的刻线是取主尺的29°等分为30格，因此游标刻线角格为29°/30，即主尺与游标一格的差值为，也就是说角度尺读数准确度为2／。其读数方法与游标卡尺完全相同。
酒泉市示波器校准公司(图1)
如果用户用IT64连接用电产品，使用电池模拟功能来模拟电池供电环境下的产品功耗，就可以将电池特性参数编辑为逐步下降的放电参数。IT64将根据表格参数自动拟合出一条平滑的放电曲线，减小用户编辑参数的工作量，提真能力。.CSV文件示意用户也可以利用IT64系列的电池放电功能，对设备原配电池进行放电测试，通过上位机软件采集到电池在放电中的电压、放电容量等参数，得到放电特性曲线。使用艾德克斯IT511内阻测试仪测得电池的内阻值，来获取IT64需要的电池模拟参数，以支持智能设备的研发测试。
由于近红外光在常规中有良好的传输特性，且其仪器较简单、分析速度快、非破坏性和样品制备量小、几乎适合各类样品（液体、粘稠体、涂层、粉末和固体）分析、多组分多通道同时测定等特点，光谱分析仪应用于钢铁冶金、有色金属、石油化工、机械制造、能源电力、铁路运输、航天、食品卫生、环境保护以及教学科研等各个领域。
化学工业中，测控技术的应用有：温度测量、流量测量、液位测量、浓度、酸度、湿度、密度、浊度、热值及各种混合气体组分等参数测量需要的测量仪表与按照预定规律控制被控参数的控制仪表等。机械工业中，测控技术的应用有：精密数字控制机床、自动生产线、工业等。航天工业中，测控技术的应用有：的飞行高度、飞行速度、飞行状态与方向、加速度、过载以及发动机状态等参数的测量，航天技术的航天运载器技术、航天器技术、航天测控技术等。
酒泉市示波器校准公司(图2)
测量时应先校准零位，角度尺的零位，是当角尺与直尺均装上，而角尺的底边及基尺与直尺无间隙接触，此时主尺与游标的“0”线对准。调整好零位后，通过改变基尺、角尺、直尺的相互位置可测试0－320°范围内的任意角。应用角度尺测量工件时，要根据所测角度适当组合量尺。
功能操作说明A．水平/角度测量、锁定、归零校准1．按ON/OFF开关，开机后按MODE键，可选择水平/角度测量或相对垂直度测量，两种 工作模式。为了方便，关机后，自动以上次关机时的模式工作2．水平度的测量：开机后按MODE键,选择水平/角度测量(LCD上行显示 为角度值,下行显示为水平度值),如 右图所示将角度尺平放在被测物体 表面，此时LCD水平度显示区显示 被测物体表面水平度值，并有水平面 调整指示动画，以判断物体表面是否 水平，根据指示方向调整水平度。当 基准面为0度、90度、180度、270度时产品有蜂鸣提示音，以提示被测 状态。
酒泉市示波器校准公司(图3)
“发热”的马蜂窝Bonny说：“以前要找到马蜂窝非常困难，而且很费时间。但自从我购入菲力尔热像仪后，找到马蜂就要容易多了，效率也提高了。热像仪不仅可以让我更好地帮助客户，还能拓展我的业务。要赚钱，就要加快工作速度。”曾经担任消防员的经历，让Bonny萌生了用热成像技术查找马蜂的想法。如今的消防队已经将热成像技术用于各种应用，比如在搜救任务中查看烟雾后的情况、查找热点、提供支持等。这些热像中的热点能清楚地表明马蜂窝是否存在这些热像中的热点能清楚地表明马蜂窝是否存在。
3． 角度的测量：打开角度支架进行角度测量，LCD角度显示区显示被测角度数值及其动 画图标。角度值为90度、180度时产品有提示音，以提示被测状态。
4．为了测量的方便，产品具有锁定数值功能，测量到水平度值、角度值后可按HOLD键， 当HOLD图标显示时锁定测量到的数值，此时移动角度支架或调整水平数值不会发生变 化，以便于观察，再按HOLD键HOLD图标消失，锁定功能解除，再移动角度支架或调 整水平可继续进行测量。
5． 为了保证测量，用户可自行校准：⑴角度的校准：很好的合拢角度支架，在水平/角度测量模式，按住ON/OFF键约3秒后，进入角度校准，校准完后自动关机，再次开 机角度值已校零；⑵水平度的校准：将水平尺立放在校准的水平面平台，在水平/角度测 量模式，按住MODE键约3秒后，进入水平度校准，当进入校准后不要移动、摇动或 晃动电子水平尺，校准完后自动关机，再次开机水平度已校零。当校零校准后，产品自 动以用户的数据信息刷新出厂数据信息，请慎重使用此功能。 stwg139wei
先测试出可控硅的峰值电压，将电线正负极连接至K两极，接地线接至室内主接地上，逐渐升压，测试其漏电流数值。进行漏电测试后，逐渐升压，观测漏电流，当数值过其额定峰值电压后，可控硅被击穿，但采用此方法可能会破坏其PN结，并且只能测试其是否导通，而不能测试其导通是否良好，故不再采用此法进行测试。摇表测试法用摇表对可控硅进行测量，参照之前使用的漏电检测法。为防止摇表法测试过程中击穿或损坏可控硅，改变摇表操作方法，即要对摇表电压和转速进行控制，两笔端链接K极对其进行测试。
