力学类仪器校准:砝码、电子称、电子天平、压力表、扭力批、测力仪、推拉力计、拉压力试验机、摆锤式冲击试验机、布洛维氏硬度计、振动试验台、胶带剥离试验机、纸板环压试验机、冲击试验机、破裂强度试验机、数字式渗水性测定仪、拉链往复试验机等。
雅江县仪器校准+校验+校正+检测CNAS单位图①
标准电阻器（standard resistor ）是专为精密仪器或校准电阻值而设计的。技术上与精密线绕电阻器的要求大体相同，并要求阻值稳定性极高，必须是无感和分布电容极小。主要具有高精密，低温度系数的特点。但应指出，它们的阻值往往是以某一温度和湿度为前提而标出的。
标准电阻器一般用温度系数低、稳定度高的锰铜合金丝（片）绕在黄铜或其他材料的骨架上，再套上铜制外壳制成。外壳与骨架通常焊在一起，把电阻丝密封起来，以减少大气中的湿度等因素的影响。电阻器绕成后需退火处理，以消除绕制过程中产生的应力，改善其稳定性。电阻器的引线经密封的陶瓷绝缘子引出，与装在面板上的端钮相接。
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PID（PotentianInducedDegradation）是一种电势诱导衰减现象，是指组件长期在高电压下使得玻璃，封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池表面。使得电池表面的钝化效果恶化，导致填充因子（FF），短路电流（Isc），开路电压（Voc）降低，使得组件的性能低于设计标准，发电能力也随之下降。2010年，NREL和Solon证实了无论组件采取何种技术的P型晶硅电池，组件在负偏压下都有PID的风险。在带宽500MHz以下的示波器，一般标配是1倍衰减或10倍衰减的无源，某些的衰减比可手动选择。不同衰减比的在带宽、输入电阻、输入电容上面都有差异：图2ZP1025SA1倍、10倍衰减时的参数差异可见的输入电容，比晶体手册的负载电容要大。的介入，必定大大影响到原已参数优化好的电路，从而严重影响晶体电路的起振。两害相权取其轻，测量无源晶振时应优先选用10倍衰减。若10倍衰减的寄生参数还是过大，可以考虑选用有源高压差分，其负载参数优化得非常小，如Lecroy的ZP1000，输入阻抗可达0.9p1M欧姆。
电阻器的引线经密封的陶瓷绝缘子引出，与装在面板上的端钮相接。标准电阻器通常做成四端钮式(见图)。A、B为电流端，C、D为电位端。测量和使用时从 A、B两端通进电流，取出C、D两点的电行测量。此时需使电位端不流过电流,这样C、D两端钮的电位就分别等于α、β两点的电位，而标准电阻器的电阻值就被定义为 α、β两个结点之间的电阻值。这样，Aα，Cα，Bβ，Dβ四条引线的电阻的影响均被消除。stwg139wei
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1共模干扰共模干扰是信号对地的电位差，主要由电网串入、地电位差及空间电磁辐射在信号线上感应的共态（同方向）电压迭加所形成。共模电压有时较大，特别是采用隔离性能差的配电器供电室，变送器输出信号的共模电压普遍较高，有的可高达130V以上。共模电压通过不对称电路可转换成差模电压，直接影响测控信号，造成元器件损坏（这就是一些系统I/O器件损坏率较高的主要原因），这种共模干扰可为直流、亦可为交流。2差模干扰差模干扰是指作用于信号两极间的干扰电压，又叫串模干扰，主要由空间电磁场在信号间耦合感应及由不平衡电路转换共模干扰所形成的电压，这种干扰直接叠加在信号上，直接影响测量与控制精度。
用电阻合金丝绕制的标准电阻器的自感及分布电容在使用时会引起一些不良效果。为了减少自感，可采用双线绕法。但对100千欧的高值电阻器,所用的电阻丝很长，采用双线绕法会导致较大的分布电容，因而多采用分段绕法，使自感和分布电容均较小。
对用于交流电路的标准电阻器，希望其自感和分布电容更小，因而需要采用一些特殊绕法；骨架也常使用云母、陶瓷等绝缘材料，以进一步减少分布电容和介质损耗。
70年代以来，已试制成了一系列比锰铜材料性能更优良的*电阻合金，其特点是在更宽的温度范围内具有很低的温度系数。用这些合金制成的标准电阻器可在一般室温条件下达到以前只能在恒温室中达到的测量准确度。在结构工艺方面，试制成了高准确度的薄膜电阻器，其自感及分布电容均比线绕电阻小得多，特别适用于交流测量。薄膜电阻器的稳定性已逐步接近传统的线绕电阻器。stwg139wei
