@CPS纳米粒度仪批发价格——儒亚科技(北京)有限公司
儒亚科技有限公司我们的磁悬浮天平的高压气体吸附分析仪、高压气体和蒸汽混合吸附分析仪、高压反应装置、高压热重反应和催化剂评价系统等，广泛用于分子筛、活性炭、离子液体和催化剂的评价等。公司在上海、河南均设立了办事处，方便与业内相关人士进行技术交流。评估高级功能材料中的比表面积是表征多孔材料（如活性炭、多孔聚合物、金属有机骨架、沸石、纳米颗粒和催化剂）的关键任务。但是，目前的技术（77K下的氮物理吸附）耗时，因此在快速发现，筛选和过程质量评估中受限。为了进行高通量表征和过程控制，需要进行快速表面积分析。而InfraSORP快速吸附能力评价分析仪就是在这样的背景下研发出来。
分辨率高：同激光散射和颗粒计数法等方法比较，该方法有非常高的分辨率。对于只有1%的颗粒差异分布的时候，该方法测定的结果仍然有好的分离效果。您能看到的是颗粒分布本身，而不是分布颗粒的混合图。灵敏度高：低至10-8g的样品就可以满足日常分析需要。重复性高：样品结果在95%的典型置信度下，连续重复分析峰的重复性小于+/-1%或更好。快速、高精度数模(A/D)转换:可用信号分辨率（即软件操作的对象）决定于数模转换的过程。CPS系统使用的数模转换可以实现在每秒31次取样时保持20位以上的精度，几百万分的误差。
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CPS纳米粒度分析仪：CPS纳米粒度分析仪是一台稳定高速、以及高分辨的纳米粒度分析仪。该仪器适合测量0.005um到75um范围的粒度。仪器使用高速离心圆盘将颗粒在液体介质里分离开。颗粒在的沉降稳定过程是由于液体介质中颗粒的密度梯度形成的。有别于传统方法，通过差示离心沉降原理为颗粒的精细区分提供新的解决方案。同激光散射和颗粒计数法等方法比较，该方法有非常高的分辨率。
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CPS高精度纳米粒度分析仪同激光散射和颗粒计数法比较，该方法有非常高的分辨率，能够轻松鉴别杂质颗粒，污染颗粒或者外来颗粒。半峰宽为峰值粒度1%，也就是说对于峰值差异只有1%的相邻粒度两个粒度峰，该仪器都可以有效地检测并区分开来。仪器的分辨率如此高，得到的颗粒分布几乎不受仪器的影响，测量终得到的是真实、可靠的颗粒分布。
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CPS高精度纳米粒度分析仪是一台稳定高速、以及高分辨的纳米粒度分析仪。该仪器适合测量0.005um到75um范围的粒度。仪器使用高速离心圆盘将颗粒在液体介质里分离开。颗粒在的沉降稳定过程是由于液体介质中颗粒的密度梯度形成的。有别于传统方法，通过差示离心沉降原理为颗粒的精细区分提供新的解决方案。同激光散射和颗粒计数法等方法比较，该方法有非常高的分辨率。CPS纳米粒度分析仪分辨率很高，它有效地结合了高速离心沉降(ZG24000转/分)和激光法的优点，使得整个仪器能够达到极高的分辨率，优良的灵敏度和重复性。beijingroyalab
CPS高速离心式粒度分析仪技术参数：1.测量参数：粒度；2.测量范围：0.005-75μm；3.旋转速度：12.000RPM,18.000RPM,24.000RPM。
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