一、概述
阻抗测试特性分析仪（FRA）是一种高精度测量仪器，用于在频域中分析组件，电路和系統（称为被测设备或DUT）。牛顿阻抗测试特性分析仪通常会生成一个正弦值号，并将其注入被测组件，电路或系统中。使用FRA上的一个输入通道（通常是通道1）在注入点测量该值号，注入信号通过被测设备，并且阻抗测试特性分析仪在第二个参考点同时测量同一信号-通常是使用通道2的系统输出，使用正弦波可以确定系统的频域行为（频率响应）。
二、应用范围
对于任何硬件工程师来说，阻抗测试特性分析仪都应被视为与示波器一样重要，它是一种主要的设计工具，它将在任何硬件工程师的测试台上发挥重要作用。重要的是要记住，N4L FRA是精密仪器，具有经过校准的输入并提供通常仅在计量学中才能看到的测量精度。
FRA可用于表征输入滤波器电路的增益/相位响应，确定晶体管的AC信号行为，确定伺服电机控制系统是否稳定，使工程师能够确定设备的传递函数或子系统。这些只是阻抗测试特性分析仪可以应用的成千上万种应用中的几种。
三、技术规格
| 型号 | SFRA45 | PSM1700 | PSM1735 | PSM3750 |
| 基本精度 | 0.02dB | 0.02dB | 0.01dB | 0.01dB |
| 相位精度 | 0.025° | 0.02° | 0.02° | 0.05° |
| 频率范围 | 5Hz~45MHz | 10uHz~1MHz | 10uHz~35MHz | 10uHz~50MHz |
| 测量 | 实时DFT | 实时DFT | 实时DFT | 实时DFT |
