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平时我们都关注示波器的三大核心指标：带宽、采样率、存储深度，但是除了三大技术指标，还有底噪、非线性度、偏置误差等，上述指标决定了能否实现更的测量，那究竟这些指标的高低由谁来决定呢？当选用示波器进行测量时，除了关注核心指标，示波器测试系统的质量也是极为重要的，底噪、非线性度、偏置误差等决定了是否可以进行更好的测量，而这些指标主要由示波器的ADC性能决定，这就要引入一个概念：等效位数（ENOB，effectivenumberofbits）。ENOB是什么ENOB（等效位数）是一个极为综合的指标，在一定程度上涵盖了数字示波器的多种误差，偏置误差、增益误差、非线性度、噪声等等。在介绍ENOB之前，先介绍下SINAD，即为信号-噪声及失真比，SINAD=S/(N+D)，其中S是信号功率、N是噪声功率、D是失真功率，也就是说，SINAD与信号功率呈正比，与噪声及失真功率呈反比，所以提高SINAD的方法有：降低噪声、提高信号的纯度（减小信号的畸变）。
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半导体材料研究和器件测试通常要测量样本的电阻率和霍尔电压。半导体材料的电阻率主要取决于体掺杂，在器件中，电阻率会影响电容、串联电阻和阈值电压。霍尔电压测量用来推导半导体类型(n还是p)、自由载流子密度和迁移率。为确定半导体范德堡法电阻率和霍尔电压，进行电气测量时需要一个电流源和一个电压表。为自动进行测量，一般会使用一个可编程开关，把电流源和电压表切换到样本的所有侧。A-SCS参数分析仪拥有4个源测量单元(SMUs)和4个前置放大器(用于高电阻测量)，可以自动进行这些测量，而不需可编程开关。
