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使用组合透镜系统对物体成像，实现加电时液晶透镜区域清晰，具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量分析模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向：液晶透镜成像系统测试目的：展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果，测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF，分析其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程：1.实验室制备液晶透镜，并通过干涉法获取波前信息，分析得到zernike系数，得到液晶透镜的性能参数，以选择合适的驱动电压；组装成像系统，对不同区域的物体进行成像实验；使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试，测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。
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利用金属良好的延展性制成很薄和电阻为定值的金属片即应变片，粘贴在被测轴系的光滑表面上，当应力作用于被测轴系上后，被测轴的表面就会在扭力作用下产生变形，应力传递到应变片，受拉压力应力应变片的电阻发生与被测轴表面变形成正比的变化，因此被测轴的变形量就可以通过测量应变片电阻的变化量来实现，进而轴系的扭矩值也就可以测量出来，应变片在安装时，沿扭矩轴中心线45°f方便粘贴四个应变片，组成全桥式电路。电阻应变片粘贴方式和电路示意图应变片式测量仪的尺寸小、使用范围广、测量精度高，结构简单，不仅适合于静态测量而且适合于短时动态测量。
