可焊性测试仪 型号BD73-ST78库号D234628

发布时间:2024-05-22
可焊性测试仪 型号:BD73-ST78

库号:D234628 


ST78 参数:

· 传感器:

线性度0.1 %

分辨率1 mg

·浸润深度:

0.1 到9mm,步进0.1mm

准确度 : ± 2.5 um

· 浸润速度:

1 到 50 mm/s,步进1 mm/s

· 退出速度:

1 到 50 mm/s,步进1 mm/s

· 温度范围: 室温到 450°C

· 重量: 26 Kg.

· 尺寸: 650x420x420 mm

· 电源 : 110 V 或 220V - 500W - 60 Hz 或 50 Hz

全自动测试及判定:

· mN级别力的感应

· 润湿力及润湿角度

· 助焊剂活性

· 合金质量

· 锡膏质量

蒸汽老化设备

MET STEAM 4

半导体、 被动器件、元器件、连接器老化测试

加速老化测试

MIL STD 833 D 和 ANSI J STD – 002/003阐述老化测试的定义为:

器件在做可焊性测试之前,需要在93°C (海平面)环境下持续暴露

选配 : 湿度控制

· SMD器件、PCB和表面金属的可焊性测试

· 简单易用

ST78 参数:

· 传感器:

线性度0.1 %

分辨率1 mg

·浸润深度:

0.1 到9mm,步进0.1mm

准确度 : ± 2.5 um

· 浸润速度:

1 到 50 mm/s,步进1 mm/s

· 退出速度:

1 到 50 mm/s,步进1 mm/s

· 温度范围: 室温到 450°C

· 重量: 26 Kg.

· 尺寸: 650x420x420 mm

· 电源 : 110 V 或 220V - 500W - 60 Hz 或 50 Hz

全自动测试及判定:

· mN级别力的感应

· 润湿力及润湿角度

· 助焊剂活性

· 合金质量

· 锡膏质量

蒸汽老化设备

MET STEAM 4

半导体、 被动器件、元器件、连接器老化测试

加速老化测试

MIL STD 833 D 和 ANSI J STD – 002/003阐述老化测试的定义为:

器件在做可焊性测试之前,需要在93°C (海平面)环境下持续暴露

选配 : 湿度控制

· SMD器件、PCB和表面金属的可焊性测试

· 简单易用

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