库号：D137158
功能特点
采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；
可使用 6 种测头 (F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量
方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式 (DIRECT) 和成组方式 (A-B)；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测量次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）。
标准配置
主机、打印机、F 头或 N 头、标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）、铁基体或铝基体、充电器
可选附件
探头（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1）、通信线缆、通信软件
产品概述
本仪器是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。
通过使用不同的测头，还可满足多种测量的需要。本仪器符合以下标准： GB/T 4956 ─ 1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚
度测量 磁性方法 GB/T 4957 ─ 1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393 ─ 1996 磁性和涡流式覆
层厚度测量仪 JJG 889 ─ 95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818 ─ 93 《电涡流式测厚仪》。
产品用途
本仪器能地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护的仪器。
功能特点：
采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的
厚度；
可使用 6 种测头 (F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式 (DIRECT) 和成组方式 (A-B)；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测量次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
可采用两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统进行修正；
具有存贮功能：可存贮 640 个测量值；
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析；
测头型号 F400 F1 F1-90° F3
测头尺寸（mm） Φ15x74 Φ15x66 11x8x200 Φ16x68
测量范围（μm） 0-400 0-1250 0-1250 0-3000
示值
（μm）
一点校准 ±（3%H+1） ±（3%H+1） ±（3%H+1） ±（3%H+3）
二点校准 ±[（1-3）%H+0.7] ±[（1-3）%H+1] ±[（1-3）%H+1] ±[（1-3）%H+3]
基体小曲率半径（mm） 凸 1 凸 1.5
平直或管内径
（R>7mm）
凸 2.5
基体小面积直径（mm） Φ3 Φ7 Φ7 Φ15
基体临界厚度（mm） 0.2 0.5 0.5 0.5
测头型号 F5 F10 N400 N1
测头尺寸（mm） Φ21x62 Φ28x48 Φ19x93 Φ17x93
测量范围（μm） 0-5000 0-10000 0-400 0-1250
示值
（μm）
一点校准 ±（3%H+5） ±（3%H+10） ±（3%H+1） ±（3%H+1.5）
二点校准 ±[（1-3）%H+3] ±[（1-3）%H+10] ±[（1-3）%H+0.7] ±[（1-3）%H+1]
基体小曲率半径（mm） 凸 5 凸 10 凸 1.5 凸 3
基体小面积直径（mm） Φ20 Φ40 Φ4 Φ5
基体临界厚度（mm） 1 2 0.3 0.3
功能特点
采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；
可使用 6 种测头 (F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量
方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式 (DIRECT) 和成组方式 (A-B)；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测量次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）。
标准配置
主机、打印机、F 头或 N 头、标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）、铁基体或铝基体、充电器
可选附件
探头（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1）、通信线缆、通信软件
产品概述
本仪器是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。
通过使用不同的测头，还可满足多种测量的需要。本仪器符合以下标准： GB/T 4956 ─ 1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚
度测量 磁性方法 GB/T 4957 ─ 1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393 ─ 1996 磁性和涡流式覆
层厚度测量仪 JJG 889 ─ 95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818 ─ 93 《电涡流式测厚仪》。
产品用途
本仪器能地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护的仪器。
功能特点：
采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的
厚度；
可使用 6 种测头 (F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式 (DIRECT) 和成组方式 (A-B)；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测量次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
可采用两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统进行修正；
具有存贮功能：可存贮 640 个测量值；
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析；
测头型号 F400 F1 F1-90° F3
测头尺寸（mm） Φ15x74 Φ15x66 11x8x200 Φ16x68
测量范围（μm） 0-400 0-1250 0-1250 0-3000
示值
（μm）
一点校准 ±（3%H+1） ±（3%H+1） ±（3%H+1） ±（3%H+3）
二点校准 ±[（1-3）%H+0.7] ±[（1-3）%H+1] ±[（1-3）%H+1] ±[（1-3）%H+3]
基体小曲率半径（mm） 凸 1 凸 1.5
平直或管内径
（R>7mm）
凸 2.5
基体小面积直径（mm） Φ3 Φ7 Φ7 Φ15
基体临界厚度（mm） 0.2 0.5 0.5 0.5
测头型号 F5 F10 N400 N1
测头尺寸（mm） Φ21x62 Φ28x48 Φ19x93 Φ17x93
测量范围（μm） 0-5000 0-10000 0-400 0-1250
示值
（μm）
一点校准 ±（3%H+5） ±（3%H+10） ±（3%H+1） ±（3%H+1.5）
二点校准 ±[（1-3）%H+3] ±[（1-3）%H+10] ±[（1-3）%H+0.7] ±[（1-3）%H+1]
基体小曲率半径（mm） 凸 5 凸 10 凸 1.5 凸 3
基体小面积直径（mm） Φ20 Φ40 Φ4 Φ5
基体临界厚度（mm） 1 2 0.3 0.3
