Surfix® easy XI​涂层测厚仪​

发布时间:2025-08-08

Surfix® easy XI涂层测厚仪

Surfix® easy X 作为带有集成探头的 Surfix® easy XI 和带有外部牢固连接探头的 Surfix® easy XE 提供。

涂层测厚仪Surfix®easy X

多功能可用的涂层测厚仪

Surfix ® easy X 系列的通用涂层测厚仪适用于操作中的日常使用以及苛刻的实验室测量。Surfix ® easy X 系列非常适合希望以简单方式测量涂层厚度,但还需要统计评估、耐磨测量和“德国制造”的高生产质量的客户。

单点校准功能可用于执行困难的测量任务。使用这种校准功能,也称为“归零”,可以提高测量精度。内置的在线统计允许快速显示平均值和标准偏差以及大和小测量值。

Surfix® easy X 作为带有集成探头的 Surfix® easy XI 和带有外部牢固连接探头的 Surfix® easy XE 提供。两种型号都可以作为组合设备 FN 用于铁/钢和有色金属的涂层厚度测量,也可以作为 F 型用于铁/钢的涂层厚度测量。应用了两种经过验证的厚度测量方法:磁法和涡流法(DIN EN ISO 2178 和 2360)。即使在钢和有色金属上的薄涂层的情况下,两者都提供高精度。FN 类型使用这两种方法;当探头放在测量对象上时,选择会自动完成。


应用领域

Surfix® easy X 系列的所有探头都设计有 V 型槽,因此可以在水平、圆柱或曲面上实现稳定的垂直定位。这些仪表用于许多不同的行业和各种应用:

优势一览

技术规格 Surfix® easy X 量规

设计 可选的集成探头或外部探头
测量范围铁/钢 0 - 3,500 微米
测量范围有色金属 0 - 3,000 微米
准确性 ± 2 µm + 值的 2%(应用更高的值)
解决 0 - 1,000 µm:1 µm / 1,000 - 2,500 µm:2 µm / 2.500 - 3,500 µm:5 µm
硬质合金极尖
校准 工厂,零校准
统计数据 平均值、标准差、小值、大值
展示 背光,

4 位字母数字,高度 8 mm

工作温度 0°C 至 + 50°C
表面温度 –15 °C 至 + 60 °C
尺寸规 110 毫米 x 50 毫米 x 25 毫米
尺寸探头 I 型:

集成

E 型:

24 毫米 x 45 毫米

重量 I 型:

90 克(含)电池

E 型号:

140 克,含 电池

防护等级 IP 52(防尘和防滴水)
标准 DIN、ISO、ASTM、BS
保修单 2年

限值

凸面的小曲率半径 5 毫米
凹面的小曲率半径 50 毫米
小操作高度 Surfix easy XI:125mm

Surfix easy XE:50mm

小测量区域 10 x 10 毫米
小基材厚度 - F 0.5 毫米
小基材厚度 - N 50微米
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