奥林巴斯ASTM E164校准 IIW型试块

发布时间:2025-08-13

奥林巴斯ASTM E164校准  IIW型试块

在几乎每个应用中都要用到校准试块和/或参考试块。奥林巴斯可为用户提供用于普通材料的角度声束校准和厚度校准的多种标准试块。

  1. 101

    校准试块

    所有试块都使用可追溯到美国*标准及技术研究所(NIST)的测量设备进行尺寸检查。经常求购的校准试块列于下表中。

    类型

    工件编号

    说明

    盒子

    ASTM E164校准

    IIW型试块

    TB7541-X 符合AASHTO和AWS的1型试块的要求。校准距离和灵敏度设置。测量角度声束探头的折射角度和声束出射点。美制单位(英寸)。 F129
    TB1136-X 美制单位(英寸)试块,带有机玻璃塞 F129

    TB1054-X

    公制单位

    F129

    TB1137-X

    公制单位试块,带有机玻璃塞

    F129

    美国空军
    IIW-2校准试块

    TB5939-X

    IIW型试块,根据《美国空军NDI手册T.O.33B -1-1》。包含用于距离校准的半径为2英寸和4英寸的切口。带有3号、5号和8号横通孔,以及2英寸孔的距离校准标记。

    F129

    RC AWS试块

    TB7543-X

    根据AWS和AASHTO的要求,确定角度声束探头的分辨率能力。

    F157

    SC AWS试块

    TB7545-X

    根据AWS和AASHTO的要求,进行灵敏度和折射角度的校准。

    F158

    DC AWS试块

    TB7547-X

    根据AWS和AASHTO的要求,为角度声束探头进行距离和声束步进的校准。

    F159

    DSC AWS试块

    TB7549-X

    根据AWS和AASHTO的要求,为角度声束探头进行距离、灵敏度、折射角度及声束步进的校准。

    F160

    DS AWS试块

    TB7551-X

    根据AWS和AASHTO的要求,用于水平线性和dB精度程序的校准试块。

    F161

    30FBH分辨率参考试块

    TB7160-X

    评价UT设备的近表面分辨率和缺陷尺寸/深度的灵敏度。带有3号、5号和8号ASTM平底孔,位于从0.050英寸到1.250英寸之间的10个金属行程距离处。

    包含

    NAVSHIPS试块

    TB7567-X

    带有6个3号横通孔。用于根据NAVSHIPS 0900-006-3010标准进行距离波幅校准。

    F162

    ASTM E164 MAB试块

    TB7150-X

    微型角度声束(ROMPAS)试块。用于距离、声束步进、折射角度及灵敏度的校准。厚度为1英寸。

    F197

    ISO 7963钢制

    TB1065-X

    微型角度声束试块。用于距离、声束步进、折射角度和灵敏度的校准。厚度为25毫米。

    F197

    将工件编号中的“X”替换为以下所列试块材料对应的编号:1 = 1018钢,2 = 4340钢,4 = 7075-T6铝,5 = 304不锈钢,8 = 6-4钛

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