X荧光贵金属镀层测厚仪EDX600PLUS是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
详情介绍
天瑞仪器X荧光贵金属镀层测厚仪 Thick800A X 荧光镀层测厚仪是一款功能强大、仪器，以下是其详细介绍1：
性能特点
*定位测试：配备高移动平台，重复定位小于 0.005mm，可准确定位测试点。采用高度定位激光，能自动定位测试高度，通过定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，还可通过鼠标控制移动平台，点击位置即为被测点，满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。
微小测试点分析：φ0.1mm 的小孔准直器可满足微小测试点的需求。
高分辨率检测：高分辨率探头搭配高性能电致冷半导体探测器，使分析结果更加准确。
安全防护完善：具有良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器可保护测试口不被样品撞击。
X荧光贵金属镀层测厚仪技术指标
元素分析范围：从硫（S）到铀（U）。
元素与镀层分析能力：同时可分析 30 种以上元素，五层镀层。
分析含量范围：一般为 ppm 到 99.9%。
镀层厚度测量范围：一般在 50μm 以内（每种材料有所不同）。
其他参数：温度适应范围为 15℃至 30℃，电源为交流 220V±5V，建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸为 576 (W)×495 (D)×545 (H) mm，样品室尺寸为 500 (W)×350 (D)×140 (H) mm，重量为 90kg。
应用领域
主要用于贵金属加工和首饰加工行业、银行、首饰销售和检测机构、电镀行业，可进行黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测，以及金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定。
