FE-300F 是日本 OTSUKA大冢电子 出品的台式显微分光膜厚监测仪薄膜厚度监测仪主打高精度多层膜非接触测

FE-300F 是日本 OTSUKA大冢电子 出品的台式显微分光膜厚监测仪（薄膜厚度监测仪）主打高精度、多层膜、非接触测量，玉崎科学仪器现货！

一、核心参数（FE-300F 标准型）

• ：OTSUKA 大冢电子（日本）
• 测量原理：反射分光法 / 白光干涉
• 波长范围：300～800 nm（UV-Vis）
• 膜厚范围：3 nm～35 μm（SiO₂换算）
• 测量光斑：Φ1.2 mm
• 测量时间：0.1～10 秒
• 层数：*多 10 层膜
• 测量项目：膜厚、折射率 n、消光系数 k、反射率
• 尺寸 / 重量：280×570×350 mm / 24 kg
• 电源：AC 100–240 V

二、子系列（按波长 / 量程）

• FE-300F（标准）：300–800 nm，3 nm–35 μm
• FE-300UV（薄膜）：300–800 nm，10 nm–20 μm
• FE-300NIR（厚膜）：900–1600 nm，3 μm–300 μm

三、价格参考（2026 年 3 月，深圳）

• FE-300F（标准型）：
  • ¥180,000～220,000 / 台
• FE-300UV / NIR：
  • +15%～30%
• 货期：日本原装，8–12 周

四、典型应用

• 半导体：氧化膜、氮化膜、光刻胶、SiC/GaN 外延膜
• 显示 / 光学：ITO、AR / 增透膜、OLED、偏光 / 相位差膜
• 功能薄膜：硬涂层、防指纹、DLC、保护膜、PET/PC/PP 树脂膜