PAM-PR300 是OSI王子计测专为光学薄膜偏光板研发的高精度台式光轴 / 相位差测量仪玉崎科学仪器代理现货

Oji Keisoku (OSI 王子计测) PAM-PR300 光轴测量装置 产品介绍

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一、核心定位与测量原理

1. 产品定位

• 核心用途：*测量光学薄膜、偏光板的偏光轴方位角、分子配向角、相位差，评估膜材取向均匀性、偏光性能、贴合精度，解决薄膜 / 偏光板光轴偏差导致的显示漏光、色差、视角不良问题
• 核心优势：角度精度 0.006°(3σ)、单点位 4 秒快速测量、三种测量模式、台式稳定结构、适配大尺寸样品
• 适用场景：光学膜材（相位差膜、偏光片、补偿膜）研发、来料 IQC、产线抽检、实验室精密、偏光板贴合品质验证

2. 测量原理（三种高精度模式）

• 旋转检偏器法（Rotating Analyzer）：标准模式，*测偏光轴、配向角、相位差
• 平行尼科尔旋转法（Parallel Nicol）：适配高透过率、低相位差样品
• 正交尼科尔旋转法（Crossed Nicol）：适配高消光比、大相位差样品
• 光源：590nm 单色 LED（标准），可选 450/550/630nm，满足不同膜材光谱特性需求

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二、关键技术参数（标准）

1. 测量核心参数

• 测量项目：偏光轴方位角、分子配向角、相位差（Retardation）
• 测量波长：标准 590nm；可选 450nm、550nm、630nm
• 角度精度（3σ）：±0.006°（行业*水平，满足高端光学膜材严苛要求）
• 角度分辨率：0.001°
• 相位差测量范围：0~1000nm（可扩展）
• 测量光斑：5.8mm 方形（33mm²），稳定覆盖膜材测量区域
• 测量速度：单点位约 4 秒（偏光轴），全参数测量≤6 秒
• 样品规格：方形 30~250mm，厚度≤20mm，适配大尺寸卷材裁切样、成品偏光板

2. 硬件规格（台式一体化）

• 主机尺寸：W380 × H390 × D610 mm
• 主机重量：27kg（稳定台式结构，抗振动、适合实验室 / 产线固定工位）
• 供电：AC100~240V，50/60Hz
• 系统配置：测量主机（含光源 + 光学系统）、控制软件、校准片、样品台、数据线、电源线

3. 软件与数据输出

• Windows 软件：实时显示角度 / 相位差数值、测量曲线、数据统计（均值、标准差、Cpk）、合格判定
• 数据格式：CSV、Excel、PDF 报告，支持批量导出、历史数据追溯、SPC 品质管控
• 操作：一键测量、自动校准、参数预设、样品定位辅助，降低操作门槛

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三、核心产品优势

1. 高角度精度，满足高端光学膜材需求
   • 角度精度达 **±0.006°(3σ)**，远常规设备，可捕捉微小光轴偏差，适配 OLED/LCD 用高端偏光片、相位差膜的精密测量
   • 稳定光学系统，长期漂移小，无需频繁校准，保证批量测量一致性
2. 三种测量模式，覆盖全类型光学样品
   • 旋转检偏器、平行 / 正交尼科尔三种模式自由切换，*适配低相位差、高透过率、高消光比等不同特性的光学膜材，无测量盲区
3. 快速高效，适配产线批量检测
   • 单点位 4 秒完成偏光轴测量，全参数≤6 秒，比传统设备效率提升 50%+
   • 大样品台（250mm），一次放置多片小样品或整片大尺寸膜材，减少装夹时间
4. 稳定可靠，台式结构适配严苛环境
   • 一体化光学设计，抗振动、抗粉尘，适合实验室与产线混合环境
   • LED 固态光源，寿命 > 20,000 小时，免预热、波长稳定、维护成本低

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四、典型应用领域

1. 光学膜材行业：偏光片、相位差膜、补偿膜、取向膜的研发与品质管控，测量光轴均匀性、配向精度、相位差
2. 显示面板行业：偏光板来料检验、贴合后光轴偏差检测、面板光学缺陷分析
3. 高分子材料：拉伸膜、液晶取向膜、光学塑料的分子取向评估

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五、与同系列机型对比（PAM-PTB100 vs PAM-PR300）

六、采购渠道
欢迎广大行业客户、合作伙伴垂询与洽谈合作：
玉崎科学仪器（深圳）有限公司
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公司*：www.shashinkagaku.com
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