PAM-UHR100 是OSI王子计测专为大相位差透明拉伸薄膜（PET/PC/PMMA 等）研发的台式测量仪 玉崎科学仪器（深圳）有限公司 代理现货
■特点
测量方法
平行尼科尔光谱
法 样品尺寸
□40mm，厚度≤3mm
测量项目
相位差 取向角，双折射
Oji Keisoku (OSI 王子计测) PAM-UHR100 高相位差测量装置 产品介绍
PAM-UHR100 是王子计测专为大相位差透明拉伸薄膜（PET/PC/PMMA 等）研发的台式测量仪，核心解决常规设备无法测量800~20000nm 大相位差的痛点，采用平行尼科尔分光法 **，同时输出相位差、配向角、双折射 Δn三大核心参数，面向高分子薄膜研发、拉伸工艺优化、品质管控场景，属于 PAM 系列相位差机型（区别于常规低相位差 / 椭圆偏振机型）。
一、核心定位与测量原理
1. 产品定位
核心用途：*测量大相位差透明拉伸薄膜的相位差、分子配向角、双折射 Δn，评估拉伸取向均匀性、热收缩特性、光学各向异性，解决常规相位差仪量程不足（仅测 0~1000nm）、大相位差无法读数 / 跳数的问题
核心优势：大量程 800~20000nm、重复精度 ±1nm、固定偏振光学系统、一键自动计算双折射、台式紧凑稳定
适用场景：PET/PC/PMMA 等光学 / 包装拉伸膜、收缩膜、磁带基膜、光盘基材、高双折射高分子材料的研发、IQC、产线抽检、工艺参数优化
2. 测量原理（平行尼科尔分光法）
采用固定偏光子 + 固定检光子 + 白光 LED + 分光检测的平行尼科尔光学架构，避免旋转部件磨损、漂移，适合大相位差稳定测量
原理：白光经偏光→样品→检光→分光器，通过光谱干涉信号解析，直接计算大相位差（800~20000nm）、配向角；输入样品厚度后，自动计算双折射 Δn，无需人工换算
光源：白色 LED 固态光源，寿命长、波长稳定、免预热，适配宽光谱相位差分析
二、关键技术参数（标准）
1. 测量核心参数
测量项目：相位差 (Retardation)、配向角、双折射 Δn
相位差量程：800~20000nm（20μm）（行业*大量程，覆盖所有高拉伸薄膜）
相位差重复精度：±1nm（3σ）
配向角测量范围：0~180°
配向角精度：±0.1°
测量光斑：标准 φ5mm（适配 40mm 方形样品）
测量速度：单点位≤10 秒（含光谱采集 + 计算）
样品规格：方形 40mm×40mm，厚度≤3mm（透明拉伸薄膜、片材）
2. 硬件规格（台式紧凑一体化）
主机尺寸：W415 × D325 × H165 mm
主机重量：约 14kg（紧凑台式，易放置于实验室 / 产线工位）
供电：AC100V±10%，50/60Hz（可适配宽电压）
环境要求：温度 10~35℃、湿度 20~80% RH（无结露）
系统配置：测量主机（含光学系统 + 光源 + 分光器）、 Windows 控制软件、样品台、校准件、数据线、电源线
3. 软件与数据功能
Windows 软件：实时显示相位差 / 配向角 /Δn 数值、光谱曲线、测量数据统计（均值、标准差、Cpk）、合格判定
数据输出：CSV、Excel、PDF 报告，支持批量导出、历史数据追溯、SPC 品质管控
操作：一键测量、自动校准、厚度输入→自动算 Δn、参数预设、样品定位辅助，操作简单、无需*光学背景
三、核心产品优势
大相位差量程，解决行业测量盲区
常规相位差仪仅测 0~1000nm，PAM-UHR100 覆盖800~20000nm，适配高拉伸 PET/PC 膜、收缩膜、磁带基膜等大相位差样品，无量程上限困扰、无跳数 / 无法读数问题
固定偏振光学系统，无旋转部件，长期稳定性强、漂移小、维护成本低
高重复精度，保证测量一致性
相位差重复精度 **±1nm**，在 20000nm 大量程下仍保持高精度，满足研发级、量产级品质管控要求
白光分光检测，抗干扰强，不受样品轻微厚度 / 透光率波动影响
一键全参数输出，提升效率
一次测量同时得到相位差、配向角、双折射 Δn，输入厚度自动计算 Δn，无需二次换算
单点位≤10 秒，比传统手动 / 旋转式设备效率提升，适配批量抽检
紧凑稳定，适配多场景
台式一体化、重量轻（14kg），可灵活放置于实验室研发台、产线质检工位
LED 固态光源，寿命 > 20000 小时，免预热、开机即用，适合高频次测量
四、典型应用领域
高分子薄膜行业：PET/PC/PMMA 拉伸膜、收缩膜、光学补偿膜、磁带基膜、包装膜的拉伸取向评估、热收缩特性分析、双折射管控
光学材料研发：高双折射高分子材料、光盘基材、液晶配套高相位差膜的研发与性能验证
产线品质管控：高拉伸薄膜来料 IQC、工艺参数优化、成品均匀性抽检，解决大相位差无法测量的痛点
五、与同系列常规机型对比（PAM-PR300 vs PAM-UHR100）
对比项
PAM-PR300（常规相位差 / 光轴）
PAM-UHR100（高相位差）
相位差量程 0~1000nm 800~20000nm（20μm）
核心精度 角度 ±0.006°，相位差 ±0.1nm 相位差 ±1nm，配向角 ±0.1°
测量原理 旋转检偏器法 平行尼科尔分光法（固定偏振）
样品类型 低相位差光学膜、偏光片 高拉伸 / 大相位差透明薄膜（PET/PC）
核心用途 光学膜光轴 / 低相位差精密测量 大相位差、双折射、配向评估
六、采购渠道
欢迎广大行业客户、合作伙伴垂询与洽谈合作：
玉崎科学仪器（深圳）有限公司
专项负责人：¹⁵⁸¹⁵⁵⁵⁰⁹⁹⁸ （林）
公司*：www.shashinkagaku.com
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