OSI王子计测用于通用胶片的在线相位差仪

OSI王子计测用于通用胶片的在线相位差仪

Oji Keisoku (OSI 王子计测) KOBRA-WI/SPC 通用胶片在线相位差仪 产品介绍

一、核心定位与测量原理

1. 产品定位

• 核心用途：在线实时测量通用透明薄膜的相位差、分子配向角 (sin2φ)、双折射均匀性，监控拉伸 / 涂布 / 分切工艺稳定性，实现全幅质量追溯、工艺闭环控制

• 核心优势：非接触、高速连续、全幅扫描、多波长色散、IP54 工业防护、即插即用、PLC 实时通讯

• 适用场景：PET/PP/PE/PS/PC/ 尼龙等包装膜、光学膜、收缩膜、胶带基膜的产线在线质检、拉伸工艺优化、全幅均匀性监控、不良品实时剔除

2. 测量原理（平行尼科尔旋转法）

• 光学架构：旋转检偏器 + 固定偏光子 + LED 光源 + 高速分光检测，非接触透射式测量，不损伤薄膜、不影响产线运行

• 核心逻辑：偏振光穿过薄膜产生双折射相位延迟，通过旋转检偏器采集干涉光谱，实时解算相位差、配向角；/SPC 多波长模式可获取波长色散曲线，评估光学膜的波长匹配特性

• 光源：高稳定 LED 固态光源（寿命 > 20000 小时），免预热、抗震动、适合工业产线连续运行

二、关键技术参数（标准）

1. 测量核心参数

• 测量项目：相位差 (Retardation)、配向角 (sin2φ)、双折射 Δn（输入厚度自动计算）

• 相位差量程：1~5000nm（标准），可扩展至 20000nm（覆盖通用薄膜全相位差区间）

• 相位差重复精度：≤±1nm（3σ）

• 配向角精度：±0.1°，分辨率 0.01°

• 测量波长：

• KOBRA-WI（标准）：590nm（单波长）

• KOBRA-WI/SPC（多波长扩展）：590nm（主）+450/550/630/750nm（分时切换，五波段）

• 测量光斑：标准5.8mm×5.8mm（33mm²），适配全幅扫描

• 测量速度：单点位≤50ms，支持连续全幅扫描（* 10m/s 线速度）

• 样品规格：透明薄膜，厚度≤3mm、幅宽≤2500mm（可定制）、线速度 0~10m/s

2. 工业硬件规格（在线）

• 结构：分体式（测量头 + 控制器），测量头 IP54 防护，内置空气吹扫接口，防粉尘 / 水汽，适配产线恶劣环境

• 安装：即插即用，可直接固定在产线机架（拉伸机 / 涂布机 / 分切机）上方，无需改造产线结构

• 通讯接口：EtherCAT、4-20mA 模拟量、RS232/485、以太网，直接对接 PLC/SCADA，实现实时数据上传、工艺反馈、自动报警 / 剔除

• 供电：AC100~240V，50/60Hz

• 环境：温度 10~40℃、湿度 30~80% RH（无结露），抗震动等级符合工业标准

• 尺寸 / 重量：测量头约 W200×D300×H150mm，重约 8kg；控制器约 W400×D300×H200mm，重约 12kg

3. 软件与数据功能（KOBRA-DSP 在线）

• 实时监控：全幅相位差 / 配向角二维分布图、趋势曲线、数值实时显示，异常点高亮报警

• 数据统计：均值、标准差、Cpk、全幅均匀性分析、历史数据追溯（CSV/Excel/PDF 导出）

• 工艺联动：与产线 PLC 闭环，实时反馈拉伸倍率 / 温度 / 张力参数，自动调整工艺，减少不良

• 操作：一键校准、参数预设、全幅扫描路径自定义、合格阈值设定、自动生成质检报告

三、核心产品优势（在线，区别于台式机型）

1. 真正在线非接触，不干扰产线

• 透射式非接触测量，无接触、无划伤、不停机、不减速，适配高速卷对卷产线（0~10m/s）

• 全幅连续扫描，替代离线抽样，* 覆盖幅宽，杜绝漏检，实现全质量追溯

2. 多波长 / SPC 扩展，满足光学膜色散需求

• 标准 590nm 满足通用包装膜；**/SPC 五波长（450~750nm）** 可测波长色散，适配光学补偿膜、偏光片配套膜的光学性能评估

• 一次扫描获取多波长相位差，无需多次测量，提升效率

3. 工业级稳定，即插即用，维护成本低

• 测量头IP54 防护 + 空气吹扫，适应产线粉尘、温湿度波动，长期稳定运行

• LED 光源长寿命、免维护，无旋转易损件，维护成本远低于传统在线检测设备

• 标准通讯接口，快速对接现有 PLC/SCADA，无需复杂电控改造

4. 高速高精度，工艺闭环控制

• 单点位 50ms 高速采集，实时输出数据，支持工艺参数自动调整，减少废品率、提升良率

• 相位差精度 ±1nm，配向角 ±0.1°，满足研发级与量产级双重管控要求

四、典型应用领域

1. 通用包装薄膜：PET/PP/PE/ 尼龙拉伸膜、收缩膜、保鲜膜，在线监控拉伸取向均匀性、热收缩性能、撕裂强度关联指标

2. 光学功能薄膜：低 / 中相位差光学膜、补偿膜、偏光片基膜，全幅相位差 / 配向角管控、波长色散评估

3. 胶带 / 工业薄膜：胶带基膜、保护膜、离型膜，在线 IQC、工艺稳定性监控、不良品实时剔除

4. 产线工艺优化：拉伸机 / 涂布机 / 分切机的张力、温度、拉伸倍率参数优化，建立工艺 - 光学性能关联模型

五、型号区分（WI vs WI/SPC）

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